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1. (WO2016035469) DISPOSITIF DE MESURE DE TEMPS, PROCÉDÉ DE MESURE DE TEMPS, DISPOSITIF DE MESURE DE DURÉE DE VIE D'ÉMISSION DE LUMIÈRE ET PROCÉDÉ DE MESURE DE DURÉE DE VIE D'ÉMISSION DE LUMIÈRE

Pub. No.:    WO/2016/035469    International Application No.:    PCT/JP2015/070858
Publication Date: 10 mars 2016 International Filing Date: 22 juil. 2015
IPC: G04F 10/06
G01N 21/64
Applicants: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
浜松ホトニクス株式会社
Inventors: KITAZAWA Ken
北澤 健
NISHIZAWA Mitsunori
西沢 充哲
ITO Takashi
伊東 孝
Title: DISPOSITIF DE MESURE DE TEMPS, PROCÉDÉ DE MESURE DE TEMPS, DISPOSITIF DE MESURE DE DURÉE DE VIE D'ÉMISSION DE LUMIÈRE ET PROCÉDÉ DE MESURE DE DURÉE DE VIE D'ÉMISSION DE LUMIÈRE
Abstract:
L'invention porte sur un dispositif de mesure de temps qui calcule le temps de l'entrée d'un premier signal de déclenchement jusqu'à l'entrée d'un deuxième signal de déclenchement en tant que temps de mesure. Le dispositif de mesure du temps comporte une porte de démarrage pour générer un signal de démarrage, une porte d'arrêt pour générer un signal d'arrêt, un circuit convertisseur temps-numérique (TDC) pour générer un code numérique correspondant au temps de l'entrée du signal de démarrage jusqu'à l'entrée du signal d'arrêt, un circuit de retard pour retarder l'entrée du signal de démarrage et/ou le signal d'arrêt vers le circuit TDC d'un temps de retard prescrit, et une unité de commande pour calculer un temps de mesure sur la base d'une pluralité de codes numériques générés par le circuit TDC. Le circuit de retard sélectionne au moins deux temps de retard.