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1. (WO2016014421) PROCÉDÉ DE DIAGNOSTIC D’INSTRUMENT DE PESAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/014421    N° de la demande internationale :    PCT/US2015/041158
Date de publication : 28.01.2016 Date de dépôt international : 20.07.2015
CIB :
G01G 23/01 (2006.01)
Déposants : METTLER-TOLEDO, LLC [US/US]; 1900 Polaris Parkway Columbus, Ohio 43240 (US)
Inventeurs : WECHSELBERGER, Eric V.; (US).
SPARKS, Jodelle D.; (US)
Mandataire : WIXON, Clarke A.; (US)
Données relatives à la priorité :
14/337,127 21.07.2014 US
Titre (EN) WEIGHING SCALE DIAGNOSTICS METHOD
(FR) PROCÉDÉ DE DIAGNOSTIC D’INSTRUMENT DE PESAGE
Abrégé : front page image
(EN)Embodiments of the invention generally relate to weighing scale diagnostic methods employing a comparison of like component operating parameters. In certain embodiments, the difference between any two current operating parameter values may be compared against a maximum allowable difference, and/or the deviation of current operating parameters from a calculated measure of central tendency may be determined and compared against a maximum allowable deviation. Alternatively or additionally, a standard statistical test for outliers may be employed. An outlying difference or deviation may be indicative of a problem with the associated component. In other embodiments, the current operating parameters of like components may be compared against calibrated parameters and any deviation of the current parameter for a given component may be compared against the total deviation to determine the percentage of deviation attributable to that component.
(FR)Des modes de réalisation de l’invention concernent de manière générale des procédés de diagnostic d’instrument de pesage utilisant une comparaison de paramètres de fonctionnement de composants similaires. Dans certains modes de réalisation, la différence entre deux valeurs de paramètre de fonctionnement actuelles quelconques peut être comparée à une différence maximale admissible, et/ou l’écart de paramètres de fonctionnement actuels vis-à-vis d’une mesure calculée de tendance centrale peut être déterminé et comparé à un écart maximal admissible. En variante ou en outre, un test statistique type pour identifier les valeurs aberrantes peut être employé. Une différence ou un écart aberrant peut indiquer un problème avec le composant associé. Dans d’autres modes de réalisation, les paramètres de fonctionnement actuels de composants similaires peuvent être comparés à des paramètres étalonnés et tout écart du paramètre actuel pour un composant donné peut être comparé à l’écart total afin de déterminer le pourcentage d’écart attribuable au composant en question.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)