WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Options
Langue d'interrogation
Stemming/Racinisation
Trier par:
Nombre de réponses par page
Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2016014303) DÉTECTION ET RÉUTILISATION DE BLOCS DÉFECTUEUX PARTIELS AU MOYEN D'UNE LECTURE POST-ÉCRITURE AMÉLIORÉE (EPWR) POUR ARCHITECTURES À BASE DE BLOCS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2016/014303 N° de la demande internationale : PCT/US2015/040483
Date de publication : 28.01.2016 Date de dépôt international : 15.07.2015
CIB :
G06F 11/20 (2006.01) ,G06F 11/07 (2006.01) ,G11C 29/00 (2006.01) ,G06F 12/08 (2006.01) ,G06F 11/14 (2006.01) ,G06F 11/16 (2006.01)
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11
Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
07
Réaction à l'apparition d'un défaut, p.ex. tolérance de certains défauts
16
Détection ou correction d'erreur dans une donnée par redondance dans le matériel
20
en utilisant un masquage actif du défaut, p.ex. en déconnectant les éléments défaillants ou en insérant des éléments de rechange
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11
Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
07
Réaction à l'apparition d'un défaut, p.ex. tolérance de certains défauts
G PHYSIQUE
11
ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
C
MÉMOIRES STATIQUES
29
Vérification du fonctionnement correct des mémoires; Test de mémoires lors d'opération en mode de veille ou hors-ligne
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
12
Accès, adressage ou affectation dans des systèmes ou des architectures de mémoire
02
Adressage ou affectation; Réadressage
08
dans des systèmes de mémoires hiérarchiques, p.ex. systèmes de mémoire virtuelle
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11
Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
07
Réaction à l'apparition d'un défaut, p.ex. tolérance de certains défauts
14
Détection ou correction d'erreur dans les données par redondance dans les opérations, p.ex. en utilisant différentes séquences d'opérations aboutissant au même résultat
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11
Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
07
Réaction à l'apparition d'un défaut, p.ex. tolérance de certains défauts
16
Détection ou correction d'erreur dans une donnée par redondance dans le matériel
Déposants : SANDISK TECHNOLOGIES LLC[US/US]; 6900 Dallas Parkway Suite 325 Plano, TX 75024, US
Inventeurs : KOCHAR, Mrinal; US
BHALERAO, Abhijeet; US
MCAULEY, Derek; US
SAGDEO, Piyush; US
Mandataire : HUSSEY, Michael, E.; US
Données relatives à la priorité :
14/336,88321.07.2014US
Titre (EN) PARTIAL BAD BLOCK DETECTION AND RE-USE USING EPWR FOR BLOCK BASED ARCHITECTURES
(FR) DÉTECTION ET RÉUTILISATION DE BLOCS DÉFECTUEUX PARTIELS AU MOYEN D'UNE LECTURE POST-ÉCRITURE AMÉLIORÉE (EPWR) POUR ARCHITECTURES À BASE DE BLOCS
Abrégé :
(EN) Systems and methods for partial bad block reuse may be provided. Data may be copied from a block of a first memory to a block of a second memory. A post write read error may be detected in a first portion the data copied to the block of the second memory without detection of a post write read error in a second portion of the data copied to the block of the second memory. The block of the second memory may be determined to be a partial bad block usable for storage in response to detection of the post write read error in the first portion of the data but not in the second portion of the data.
(FR) L'invention concerne des systèmes et des procédés de réutilisation de blocs défectueux partiels. Des données peuvent être copiées d'un bloc d'une première mémoire à un bloc d'une seconde mémoire. Une erreur de lecture post-écriture peut être détectée dans une première partie des données copiées dans le bloc de la seconde mémoire sans détection d'une erreur de lecture post-écriture dans une seconde partie des données copiées dans le bloc de la seconde mémoire. Il peut être déterminé que le bloc de la seconde mémoire est un bloc défectueux partiel utilisable à des fins de stockage en réponse à la détection de l'erreur de lecture post-écriture dans la première partie des données mais pas dans la seconde partie des données.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)