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1. (WO2016012606) MICROSCOPE ET PROCÉDÉ D'INVESTIGATION OPTIQUE ET/OU DE MANIPULATION D'UNE PRÉPARATION DE MICROSCOPIE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/012606    N° de la demande internationale :    PCT/EP2015/067035
Date de publication : 28.01.2016 Date de dépôt international : 24.07.2015
CIB :
G02B 21/06 (2006.01)
Déposants : LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH [DE/DE]; Ernst-Leitz-Strasse 17-37 35578 Wetzlar (DE)
Inventeurs : GANSER, Michael; (DE)
Mandataire : BRADL, Joachim; (DE)
Données relatives à la priorité :
10 2014 110 575.3 25.07.2014 DE
Titre (DE) MIKROSKOP UND VERFAHREN ZUM OPTISCHEN UNTERSUCHEN UND/ODER MANIPULIEREN EINER MIKROSKOPISCHEN PROBE
(EN) MICROSCOPE AND METHOD FOR OPTICALLY EXAMINING AND/OR MANIPULATING A MICROSCOPIC SAMPLE
(FR) MICROSCOPE ET PROCÉDÉ D'INVESTIGATION OPTIQUE ET/OU DE MANIPULATION D'UNE PRÉPARATION DE MICROSCOPIE
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Mikroskop, das ein Objektiv (1) und einen Hauptstrahlteiler (2) aufweist, wobei das Objektiv (1) sowohl in einem Beobachtungsstrahlengang, als auch in einem Beleuchtungsstrahlengang angeordnet ist und der Hauptstrahlteiler (2) den Beobachtungsstrahlengang von dem Beleuchtungsstrahlengang trennt. Das Mikroskop ist gekennzeichnet durch eine optische Vorrichtung (5), die Beleuchtungslicht wenigstens einer von mehreren Beleuchtungseinrichtungen zu dem Hauptstrahlteiler (2) lenkt, wobei auf dem Lichtweg des Beleuchtungslichts zwischen der optischen Vorrichtung (5) und dem Objektiv (1) kein abbildendes und/oder fokussierendes und/oder defokussierendes optisches Bauteil angeordnet ist. Die Erfindung betrifft außerdem eine Beleuchtungseinrichtung für ein solches Mikroskop und ein Verfahren zum optischen Untersuchen und/oder Manipulieren einer mikroskopischen Probe.
(EN)The invention relates to a microscope, which comprises a lens (1) and a main beam splitter (2), wherein the lens (1) is arranged both in an observation beam path and in an illumination beam path and the main beam splitter (2) separates the observation beam path from the illumination beam path. The microscope is characterised by an optical apparatus (5), which deflects the illumination light of at least one of more illumination devices to the main beam splitter (2), wherein no imaging and/or focusing and/or defocusing optical component is arranged on the light path of the illumination light between the optical apparatus (5) and the lens (1). In addition, the invention relates to an illumination device for such a microscope and a method for optically examining and/or manipulating a microscopic sample.
(FR)L'invention concerne un microscope, qui comporte un objectif (1) et un diviseur de faisceau principal (2), dans lequel l'objectif (1) est disposé dans un chemin de faisceau d'observation ainsi que dans un chemin de faisceau d'éclairage, et le diviseur de faisceau principal (2) sépare le chemin du faisceau d'observation du chemin du faisceau d'éclairage. Le microscope est caractérisé par un dispositif optique (5), qui oriente la lumière d'éclairement d'un parmi plusieurs dispositifs d'éclairage vers le diviseur de faisceau principal (2) ; aucun composant optique de formation d'image et/ou de focalisation et/ou de défocalisation n'est intercalé sur le chemin lumineux de la lumière d'éclairage entre le dispositif optique (5) et l'objectif (1). L'invention concerne en outre un dispositif d'éclairage pour un tel microscope et un procédé pour des investigations optiques et/ou pour la manipulation d'une préparation de microscopie.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)