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1. (WO2016011664) MONTAGE D'ESSAI À HAUTE TEMPÉRATURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/011664    N° de la demande internationale :    PCT/CN2014/083039
Date de publication : 28.01.2016 Date de dépôt international : 25.07.2014
CIB :
G01R 27/02 (2006.01), G01R 27/04 (2006.01), G01R 1/04 (2006.01), G01R 31/00 (2006.01)
Déposants : R&D CENTER, SHANGHAI INSTITUTE OF CERAMICS [CN/CN]; 215 Chengbei Road, Jiading District Shanghai 201800 (CN).
SHANGHAI INSTITUTE OF CERAMICS, CHINESE ACADEMY OF SCIENCES [CN/CN]; 1295 Dingxi Road, Changning District Shanghai 200050 (CN)
Inventeurs : TU, Xiaoniu; (CN).
ZHENG, Yanqing; (CN).
KONG, Haikuan; (CN).
SHI, Erwei; (CN)
Mandataire : HANQIAO PATENT; Room 1809 69 Dongfang Road, Pudong New District Shanghai 200120 (CN)
Données relatives à la priorité :
201410352594.2 23.07.2014 CN
Titre (EN) HIGH-TEMPERATURE TEST FIXTURE
(FR) MONTAGE D'ESSAI À HAUTE TEMPÉRATURE
(ZH) 一种高温测试夹具
Abrégé : front page image
(EN)A high-temperature test fixture. The fixture comprises at least three noble metal electrodes (11, 12, 13) arranged in parallel, noble metal wires (1, 2, 5) and a thermocouple for measuring the temperature of a material to be tested. The adjacent two noble metal electrodes (11, 12, 13) are used for clamping a sample to be tested. One end of each noble metal wire (1, 2, 5) is connected to the noble metal electrodes (11, 12, 13) respectively, and the other end of each noble metal wire (1, 2, 5) is connected to a test device to transmit a test signal generated by the sample to be tested to the test device through the noble metal electrodes (11, 12, 13).
(FR)L'invention concerne un appareil d'essai à haute température. L'appareil comporte au moins trois électrodes de métal noble (11, 12, 13) disposées en parallèle, des fils de métal noble (1, 2, 5) et un thermocouple pour mesurer la température d'un matériau devant être essayé. Les deux électrodes de métal noble (11, 12, 13) adjacentes sont utilisées pour serrer un échantillon devant être essayé. Une extrémité de chaque fil de métal noble (1, 2, 5) est reliée aux électrodes de métal noble (11, 12, 13) respectivement, et l'autre extrémité de chaque fil de métal noble (1, 2, 5) est reliée à un dispositif d'essai pour transmettre un signal d'essai généré par l'échantillon devant être essayé au dispositif d'essai par les électrodes de métal noble (11, 12, 13).
(ZH)一种高温测试夹具,所述夹具包括:至少三个平行设置的贵金属电极(11、12、13),相邻的两个贵金属电极(11、12、13)用于夹持待测样品;一端与所述贵金属电极(11、12、13)连接的贵金属导线(1、2、5),所述贵金属导线(1、2、5)另一端连接至测试装置以通过贵金属电极(11、12、13)将待测样品产生的测试信号传递给所述测试装置;以及用于测量被测试材料温度的热电偶。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)