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1. (WO2016011627) PROCÉDÉ DE CORRECTION STATIQUE PRÉSERVANT L'AMPLITUDE POUR DONNÉES MAGNÉTIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/011627    N° de la demande internationale :    PCT/CN2014/082857
Date de publication : 28.01.2016 Date de dépôt international : 23.07.2014
CIB :
G01V 3/38 (2006.01)
Déposants : WANG, Yaping [CN/CN]; (CN)
Inventeurs : WANG, Yaping; (CN)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) AMPLITUDE-PRESERVED STATIC CORRECTION METHOD FOR MAGNETIC DATA
(FR) PROCÉDÉ DE CORRECTION STATIQUE PRÉSERVANT L'AMPLITUDE POUR DONNÉES MAGNÉTIQUES
(ZH) 一种电磁数据的保幅静校正方法
Abrégé : front page image
(EN)An amplitude-preserved static correction method for magnetic data, comprising the following steps: 1) determining an electrical layer with stable depth and resistivity based on magnetotelluric (MT) data collected in a work zone, obtaining a corresponding frequency band on a magnetic data curve, and averaging two apparent resistivity curves of all test points on a magnetic data test curve in the frequency band to obtain an average apparent resistivity data Ρiα; 2) obtaining an initial correction factor of the two curves of the test points; 3) performing initial correction and obtaining data ΡsiXY and ΡsiYX of the two corrected apparent resistivity curves; 4) reselecting a frequency band and, according to steps 1) to 3), respectively calculating arithmetic or geometric apparent resistivity averages ΡsiαXY, PsiαYX and ΡfsiαXY, ΡfsiαYX of the two curves of the test points within the reselected frequency band before and after filtering; 5) obtaining amplitude-preserved static correction factors of the two curves of the test points; and 6) calculating to obtain final apparent resistivity data ΡpsiXY and ΡpsiYX of the two corrected curves to complete static correction.
(FR)Procédé de correction statique préservant l'amplitude pour données magnétiques, comportant les étapes suivantes: 1) déterminer une couche électrique présentant une profondeur et une résistivité stables d'après des données magnétotelluriques (MT) recueillies dans une zone de travail, obtenir une bande de fréquence correspondante sur une courbe de données magnétiques, et effectuer une moyenne de deux courbes de résistivité apparente de tous les points d'essais sur une courbe d'essais de données magnétiques dans la bande de fréquence pour obtenir une donnée Ρiα de résistivité apparente moyenne; 2) obtenir un facteur de correction initiale des deux courbes des points d'essais; 3) procéder à une correction initiale et obtenir des données ΡsiXY et ΡsiYX des deux courbes corrigées de résistivité apparente; 4) resélectionner une bande de fréquence et, selon les étapes 1) to 3), calculer respectivement des moyennes arithmétiques ou géométriques ΡsiαXY, PsiαYX, ΡfsiαXY et ΡfsiαYX de résistivité apparente des deux courbes des points d'essais à l'intérieur de la bande de fréquence resélectionnée avant et après filtrage; 5) obtenir des facteurs de correction statique préservant l'amplitude des deux courbes des points d'essais; et 6) effectuer un calcul pour obtenir des données finales ΡpsiXY et ΡpsiYX de résistivité apparente des deux courbes corrigées pour terminer la correction statique.
(ZH)一种电磁数据的保幅静校正方法,采用以下步骤实现:1)根据工区采集的大地电磁数据,确定一个深度和电阻率稳定的电性层,得到电磁数据曲线上对应的频段,对频段上电磁数据测线上所有测点的两支视电阻率曲线做平均,计算平均视电阻率数据ρiα;2)求取各个测点两支曲线的初步校正因子;3)进行初步校正,得到校正后的两支视电阻率曲线数据ρsiXY和ρsiYX;4)重新选择一个频率段,按照步骤1)至3)分别计算出滤波前和滤波后各个测点两支曲线在该频段范围内视电阻率的算术或者几何平均值ρsiαXY,ρsiαYX ,ρfsiαXY和ρfsiαYX;5)求取各个测点两支曲线的保幅校正因子;6)计算获得最终的保幅校正后两支曲线视电阻率数据ρpsiXY和ρpsiYX 完成静校正。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)