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1. (WO2016010963) MICROSCOPIE À FORCES ATOMIQUES À IMAGERIE À MODE À BOUCLES MULTIPLES ADAPTATIVES À GRANDE VITESSE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/010963    N° de la demande internationale :    PCT/US2015/040273
Date de publication : 21.01.2016 Date de dépôt international : 14.07.2015
CIB :
G01Q 30/06 (2010.01), G01Q 30/12 (2010.01), B82Y 35/00 (2011.01)
Déposants : RUTGERS, THE STATE UNIVERSITY OF NEW JERSEY [US/US]; Old Queen's Somerset Street New Brunswick, NJ 08909 (US)
Inventeurs : ZOU, Qingze; (US).
REN, Juan; (US).
LIU, Jiangbo; (US)
Mandataire : BUTCH III, Peter, J.; (US)
Données relatives à la priorité :
62/024,163 14.07.2014 US
Titre (EN) HIGH SPEED ADAPTIVE-MULTI-LOOP MODE IMAGING ATOMIC FORCE MICROSCOPY
(FR) MICROSCOPIE À FORCES ATOMIQUES À IMAGERIE À MODE À BOUCLES MULTIPLES ADAPTATIVES À GRANDE VITESSE
Abrégé : front page image
(EN)A method for imaging a sample using a high speed dynamic mode atomic force microscope may include scanning a tip of a cantilever probe over a surface of the sample, regulating a vibration amplitude of the tip to remain constant at a set point value (Aset), via a first signal generated in a first feedback controller, measuring a mean tapping deflection of the tip, regulating the mean tapping deflection via a second signal generated in a second feedback controller, tracking and measuring an adjustment to the measured mean tapping deflection during the regulating. The method may further include generating an image topography of the sample based on the first signal, the second signal, and the measured adjustment of the mean tapping deflection of the cantilever probe.
(FR)L'invention porte sur un procédé pour réaliser une image d'un échantillon à l'aide d'un microscope à forces atomiques à mode dynamique à grande vitesse, lequel procédé peut mettre en œuvre le balayage d'une pointe d'une sonde en porte-à-faux sur une surface de l'échantillon, la régulation d'une amplitude de vibration de la pointe de façon à rester constante à une valeur de point de consigne (Aset), par l'intermédiaire d'un premier signal généré dans un premier dispositif de commande de rétroaction, la mesure d'un infléchissement d'impact moyen de la pointe, la régulation de l'infléchissement d'impact moyen par l'intermédiaire d'un second signal généré dans un second dispositif de commande de rétroaction, et le suivi et la mesure d'un réglage de l'infléchissement d'impact moyen mesuré pendant la régulation. Le procédé peut de plus mettre en œuvre la génération d'une topographie d'image de l'échantillon sur la base du premier signal, du second signal et du réglage mesuré de l'infléchissement d'impact moyen de la sonde en porte-à-faux.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)