WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2016009993) DISPOSITIF DE GÉNÉRATION DE COURANT ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE DISPOSITIF DE GÉNÉRATION DE COURANT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/009993    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/070049
Date de publication : 21.01.2016 Date de dépôt international : 13.07.2015
CIB :
G09G 3/30 (2006.01), G09G 3/20 (2006.01), H01L 51/50 (2006.01), H05B 33/08 (2006.01), H05B 33/12 (2006.01), H05B 33/14 (2006.01)
Déposants : TOPPAN PRINTING CO., LTD. [JP/JP]; 5-1, Taito 1-chome, Taito-ku, Tokyo 1100016 (JP)
Inventeurs : MATSUDA, Kunihiro; (JP).
OGURA, Jun; (JP)
Mandataire : ONDA, Makoto; (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-145138 15.07.2014 JP
Titre (EN) CURRENT DRIVING DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING CURRENT DRIVING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE GÉNÉRATION DE COURANT ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE DISPOSITIF DE GÉNÉRATION DE COURANT
(JA) 電流駆動装置、および、電流駆動装置の検査方法
Abrégé : front page image
(EN)A current driving device is equipped with a measurement unit that measures the voltage of a data line and a setting unit that sets a driving period and a measurement period in that order after voltage has been stored in a storage capacitor. During the driving period the setting unit sets an off state with respect to a storage transistor, sets an on state with respect to a selection transistor, sets a high-impedance state with respect to a data line, and sets a power supply line for which the power supply voltage is a forward bias with respect to a current driving element, thereby causing a current in accordance with the voltage stored in the storage capacitor to flow to the current driving element through a current path of a driving transistor. During the measurement period the setting unit switches the selection transistor from the on state to the off state, and causes the measurement unit to measure the voltage on the data line.
(FR)L'invention concerne un dispositif de génération de courant pourvu d'une unité de mesure qui mesure la tension d'une ligne de données et d'une unité d'établissement qui établit une période de génération et une période de mesure dans cet ordre après qu'une tension a été stockée dans un condensateur de stockage. Pendant la période de génération, l'unité d'établissement établit un état bloqué relativement à un transistor de stockage, établit un état passant relativement à un transistor de sélection, établit un état haute impédance relativement à une ligne de données, et établit une ligne d'alimentation électrique pour laquelle la tension d'alimentation est une polarisation directe relativement à un élément de génération de courant, ce qui permet de faire circuler un courant, en fonction de la tension stockée dans le condensateur de stockage, vers l'élément de génération de courant, par un chemin de courant d'un transistor de génération. Pendant la période de mesure, l'unité d'établissement commute le transistor de sélection de l'état passant à l'état bloqué, et amène l'unité de mesure à mesurer la tension sur la ligne de données.
(JA) データ線の電圧を測定する測定部と、保持容量に電圧を保持させた後に駆動期間と測定期間とを順に設定する設定部とを備え、設定部は、駆動期間において、保持トランジスタに対するオフ状態の設定、選択トランジスタに対するオン状態の設定、データ線に対するハイインピーダンス状態の設定、および、電流駆動素子に対して順方向のバイアスになる電源電圧の前記電源線に対する設定によって、保持容量の保持する電圧に応じた電流を駆動トランジスタの電流路を通じて電流駆動素子に流し、測定期間において、選択トランジスタをオン状態からオフ状態に切り替えてデータ線の電圧を測定部に測定させる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)