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1. (WO2016009674) PUCE DE MICROANALYSE À SEMI-CONDUCTEUR ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2016/009674 N° de la demande internationale : PCT/JP2015/057607
Date de publication : 21.01.2016 Date de dépôt international : 10.03.2015
CIB :
G01N 27/00 (2006.01)
Déposants : KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA[JP/JP]; 1-1, Shibaura 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058001, JP
Inventeurs : KOBAYASHI, Kentaro; JP
NISHIGAKI, Michihiko; JP
HAMASAKI, Hiroshi; JP
NAKAMURA, Naofumi; JP
Mandataire : S & S INTERNATIONAL PPC; SUZUYE & SUZUYE BLDG., 1-12-9, Toranomon, Minato-ku, Tokyo 1050001, JP
Données relatives à la priorité :
2014-14761318.07.2014JP
Titre (EN) SEMICONDUCTOR MICRO-ANALYSIS CHIP AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
(FR) PUCE DE MICROANALYSE À SEMI-CONDUCTEUR ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
Abrégé : front page image
(EN) According to one embodiment, a semiconductor micro-analysis chip includes a first flow channel provided with a substrate surface, the flow channel engraved on the substrate into which a sample liquid can flow, micropore provided with a part of the flow channel, a reservoir provided with at least one end of the flow channel, the reservoir engraved on the substrate for inlet and outlet of the sample liquid, and a first electrode provided with a part of the flow channel or of the reservoir. The electrode is disposed from the bottom surface of the flow channel or of the reservoir to the substrate surface, and a side surface which connects the bottom surface and the substrate surface is tapered for reducing a bend in a height direction of the electrode.
(FR) Selon un mode de réalisation, une puce de microanalyse à semi-conducteur comprend un premier canal d'écoulement pourvu d'une surface de substrat, le canal d'écoulement étant gravé sur le substrat dans lequel un échantillon liquide peut s'écouler, un micropore pourvu d'une partie du canal d'écoulement, un réservoir doté d'au moins une extrémité du canal d'écoulement, le réservoir étant gravé sur le substrat pour l'entrée et la sortie de l'échantillon liquide, et une première électrode pourvue d'une partie du canal d'écoulement ou du réservoir. L'électrode est disposée à partir de la surface inférieure du canal d'écoulement ou du réservoir jusqu'à la surface du substrat, et une surface latérale qui relie la surface inférieure et la surface du substrat est effilée pour réduire une courbure dans le sens de la hauteur de l'électrode.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)