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1. (WO2016009673) SYSTÈME D'INSPECTION DE PARTICULES ET PROCÉDÉ D'ATTAQUE DE CE DERNIER
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/009673    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/057606
Date de publication : 21.01.2016 Date de dépôt international : 10.03.2015
CIB :
G01N 27/00 (2006.01), G01N 15/12 (2006.01), G01N 37/00 (2006.01)
Déposants : KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA [JP/JP]; 1-1, Shibaura 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058001 (JP)
Inventeurs : NISHIGAKI, Michihiko; (JP).
HAMASAKI, Hiroshi; (JP).
NAKAMURA, Naofumi; (JP).
KOBAYASHI, Kentaro; (JP).
MIKI, Hiroko; (JP)
Mandataire : S & S INTERNATIONAL PPC; SUZUYE & SUZUYE BLDG., 1-12-9, Toranomon, Minato-ku, Tokyo 1050001 (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-147614 18.07.2014 JP
Titre (EN) PARTICLE INSPECTION SYSTEM AND DRIVING METHOD EMPLOYED THEREIN
(FR) SYSTÈME D'INSPECTION DE PARTICULES ET PROCÉDÉ D'ATTAQUE DE CE DERNIER
Abrégé : front page image
(EN)According to one embodiment, a particle inspection system includes a voltage driving circuit which applies a driving voltage for a particle inspection to a particle inspection chip, a current-voltage conversion circuit which converts, into a voltage signal, a current signal output from the particle inspection chip when the driving voltage is applied to the particle inspection chip, a detection circuit which detects, based on the voltage signal, whether the sample liquid is introduced into a detection region of the particle inspection chip, and an analysis circuit which analyzes the fine particle in the sample liquid based on the voltage signal. The voltage driving circuit varies the driving voltage based on the detection result of the detection circuit.
(FR)Un mode de réalisation de l'invention porte sur un système d'inspection de particules, lequel système comprend un circuit d'attaque de tension qui applique une tension d'attaque pour une inspection de particules à une puce d'inspection de particules, un circuit de conversion courant/tension, qui convertit en un signal de tension un signal de courant délivré en sortie de la puce d'inspection de particules quand la tension d'attaque est appliquée à la puce d'inspection de particules, un circuit de détection qui détecte, sur la base du signal de tension, si le liquide échantillon est ou non introduit dans une région de détection de la puce d'inspection de particules, et un circuit d'analyse qui analyse la particule fine dans le liquide échantillon sur la base du signal de tension. Le circuit d'attaque de tension fait varier la tension d'attaque sur la base du résultat de détection du circuit de détection.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)