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1. (WO2016009569) PROCÉDÉ, DISPOSITIF ET PROGRAMME D'ANALYSE DE FACTEUR D'ATTRIBUT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/009569    N° de la demande internationale :    PCT/JP2014/069633
Date de publication : 21.01.2016 Date de dépôt international : 17.07.2014
CIB :
G06T 7/00 (2006.01)
Déposants : NEC SOLUTION INNOVATORS, LTD. [JP/JP]; 1-18-7, Shinkiba, Koto-ku, Tokyo 1368627 (JP)
Inventeurs : IHARA, Yasuyuki; (JP).
SUGIYAMA, Masashi; (JP)
Mandataire : IKEDA, Noriyasu; (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) ATTRIBUTE FACTOR ANALYSIS METHOD, DEVICE, AND PROGRAM
(FR) PROCÉDÉ, DISPOSITIF ET PROGRAMME D'ANALYSE DE FACTEUR D'ATTRIBUT
(JA) 属性要因分析方法、装置、およびプログラム
Abrégé : front page image
(EN)The present invention provides a method for analyzing an attribute factor from training sample sets each of which comprises a group of reference image data and attribute data accompanying the reference image data. The attribute factor analysis method includes: a dividing step of dividing an image region of the reference image data constituting each of the training sample sets into a mesh in a predetermined sample size portion; a model constructing step of constructing a regression model by performing a sparse regression analysis from a reference sample set for each portion; a dependency calculation step of obtaining an attribute factor analysis result by calculating, with respect to each of the training sample sets and using the regression model, the dependency between an explanatory variable representing a feature quantity of the reference image data at each portion and an objective variable representing the attribute data; and a visualization step of visualizing and outputting the attribute factor analysis result.
(FR)La présente invention concerne un procédé pour analyser un facteur d'attribut à partir d'ensembles d'échantillons d'apprentissage comprenant chacun un groupe de données d'image de référence et des données d'attribut accompagnant les données d'image de référence. Le procédé d'analyse de facteur d'attribut comprend: une étape de division consistant à diviser une région d'image des données d'image de référence constituant chacun des ensembles d'échantillons d'apprentissage en un maillage dans une partie de taille d'échantillon prédéterminée; une étape de construction de modèle pour construire un modèle de régression en effectuant une analyse de régression éparse à partir d'un ensemble d'échantillons de référence pour chaque partie; une étape de calcul de dépendance pour obtenir un résultat d'analyse de facteur d'attribut calculant, par rapport à chacun des ensembles d'échantillons d'apprentissage et en utilisant le modèle de régression, la dépendance entre une variable explicative représentant une quantité caractéristique des données d'image de référence au niveau de chaque partie et une variable objective représentant les données d'attribut; et une étape de visualisation consistant à visualiser et à fournir le résultat d'analyse de facteur d'attribut.
(JA) 本発明は、各々が参照画像データとこの参照画像データに付随する属性データとの一組から成る訓練サンプル集合から、属性の要因を分析する方法である。属性要因分析方法は、訓練サンブル集合の各々を構成する参照画像データの画像領域を、所定のサンプル・サイズの部位にメッシュ状に分割する分割工程と、参照サンブル集合から部位毎にスパース回帰分析をして、回帰モデルを構築するモデル構築工程と、回帰モデルを用いて、訓練サンプル集合のそれぞれに対して、各部位の参照画像データの特徴量を表す説明変数と属性データを表す目的変数との間の依存度を算出して、属性要因分析結果を得る依存度算出工程と、属性要因分析結果を可視化して出力する可視化工程と、を含む。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)