WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2016008099) PROCÉDÉ POUR DÉTECTER UNE FISSURE DE SUBSTRAT, SUBSTRAT ET CIRCUIT DE DÉTECTION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/008099    N° de la demande internationale :    PCT/CN2014/082254
Date de publication : 21.01.2016 Date de dépôt international : 15.07.2014
CIB :
G02F 1/13 (2006.01)
Déposants : HUAWEI TECHNOLOGIES CO., LTD. [CN/CN]; Huawei Administration Building, Bantian, Longgang District, Shenzhen, Guangdong 518129 (CN)
Inventeurs : JIA, Yanfeng; (CN).
TANG, Lei; (CN).
XIE, Pengfei; (CN)
Mandataire : LEADER PATENT & TRADEMARK FIRM; 8F-6,Bldg. A,Winland International Center,No. 32 Xizhimen North Street, Haidian District Beijing 100082 (CN)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) METHOD FOR DETECTING SUBSTRATE CRACK, SUBSTRATE AND DETECTION CIRCUIT
(FR) PROCÉDÉ POUR DÉTECTER UNE FISSURE DE SUBSTRAT, SUBSTRAT ET CIRCUIT DE DÉTECTION
(ZH) 检测基板裂缝的方法、基板和检测电路
Abrégé : front page image
(EN)Provided are a method for detecting a substrate crack, a substrate and a detection circuit, comprising: providing a non-closed test line (12, 22) with an opening (121, 221) around the edge of a glass substrate (11, 21) of a TFT substrate (1, 2), which is capable of judging whether the edge of the TFT substrate (1, 2) has a crack or a broken block by measuring the conduction or disconnection of the test line (12, 22), so that missed detection can be avoided and detection efficiency can be improved, and the detection of whether the edge of the TFT substrate (1, 2) in a liquid crystal module has a crack or a broken block can still be realized after the TFT substrate (1, 2) is assembled into the liquid crystal module or the liquid crystal module is assembled into a complete machine.
(FR)L'invention porte sur un procédé pour détecter une fissure de substrat, sur un substrat et sur un circuit de détection, ledit procédé comprenant : la disposition d'une ligne d'essai non fermée (12, 22) ayant une ouverture (121, 221) autour du bord d'un substrat en verre (11, 21) d'un substrat de transistor à film mince (1, 2), qui est capable d'estimer si le bord du substrat de transistor à film mince (1, 2) présente ou non une fissure ou un bloc cassé par la mesure de la conduction ou de la déconnexion de la ligne d'essai (12, 22), de telle sorte qu'une détection manquée peut être évitée et qu'une efficacité de détection peut être améliorée, et que la détection du fait que le bord du substrat de transistor à film mince (1, 2), dans un module à cristaux liquides, présente ou non une fissure ou un bloc cassé peut toujours être effectuée après que le substrat de transistor à film mince (1, 2) a été assemblé dans le module de cristaux liquides ou après que le module de cristaux liquide a été assemblé en une machine complète.
(ZH)一种检测基板裂缝的方法、基板和检测电路,包括:在TFT基板(1、2)的玻璃基板(11、21)上的边缘一周设置具有开口(121、221)的非闭合测试线(12、22),通过测量测试线(12、22)的导通或断开就能够判断TFT基板(1、2)边缘是否具有裂缝或崩块,从而能够避免漏检并提高检测效率,并且在TFT基板(1、2)组装成液晶模组或在液晶模组组装成整机后依然能够实现对液晶模组中TFT基板(1、2)边缘是否具有裂缝或崩块的检测。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)