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1. (WO2016007918) SYSTÈME ET PROCÉDÉ D’ÉTALONNAGE DE DISPOSITIF DE POURSUITE LASER

Pub. No.:    WO/2016/007918    International Application No.:    PCT/US2015/040043
Publication Date: Fri Jan 15 00:59:59 CET 2016 International Filing Date: Sat Jul 11 01:59:59 CEST 2015
IPC: H01S 3/10
G01B 11/00
Applicants: HUDLEMEYER, Aaron
MEURET, Mark
Inventors: HUDLEMEYER, Aaron
MEURET, Mark
Title: SYSTÈME ET PROCÉDÉ D’ÉTALONNAGE DE DISPOSITIF DE POURSUITE LASER
Abstract:
L’invention concerne un système et un procédé d’étalonnage d’un dispositif de poursuite laser. Le système inclut un système de support pour un déplacement rapide et facile d’un artefact dans une position et une orientation désirées et pour le maintien de l’artefact dans la position et l’orientation. Un miroir d’alignement réglable est couplé à une première extrémité de l’artefact de sort que le système d’alignement plus précis du dispositif de poursuite laser puisse être isolé pour déterminer une longueur de référence de l’artefact. Des mesures additionnelles sont alors effectuées pour exercer une ou plusieurs sources d’erreurs dans le dispositif de poursuite. Le système de support inclut un positionneur et une poutre de supporter pour le positionnement et le support de l’artefact. L’artefact est couplé à la poutre de support au moyen de pinces cinématiques qui sont conçues pour réduire ou éliminer les erreurs associées à une constriction excessive de l’artefact.