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1. (WO2016007620) COMMANDE DE L'INDUCTANCE DU CHEMIN DU SIGNAL DANS UN ÉQUIPEMENT DE TEST AUTOMATIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/007620    N° de la demande internationale :    PCT/US2015/039547
Date de publication : 14.01.2016 Date de dépôt international : 08.07.2015
CIB :
G01R 27/26 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : TERADYNE, INC. [US/US]; 600 Riverpark Drive North Reading, Massachusetts 01864 (US)
Inventeurs : WEIMER, Jack E.; (US).
PRICE, Steven C.; (US).
HANNA, David R.; (US).
BAENEN, Jeffry; (US).
SKIBINSKI, Scott; (US)
Mandataire : PYSHER, Paul, A.; (US)
Données relatives à la priorité :
14/329,617 11.07.2014 US
Titre (EN) CONTROLLING SIGNAL PATH INDUCTANCE IN AUTOMATIC TEST EQUIPMENT
(FR) COMMANDE DE L'INDUCTANCE DU CHEMIN DU SIGNAL DANS UN ÉQUIPEMENT DE TEST AUTOMATIQUE
Abrégé : front page image
(EN)Example automatic test equipment (ATE) may include: a device interface board (DIB) on which the DUT is mounted; a system for sending signals to, and receiving signals from, the DUT; and an energy source unit (ESU) to provide current to the DUT via the DIB, where the ESU includes current paths to provide the current, and where the current paths are configured to limit a combined inductance of the current paths.
(FR)L'invention concerne un exemple d'équipement de test automatique (ATE) qui peut comprendre : une carte d'interface de dispositif (DIB) sur laquelle est monté le DUT; un système pour envoyer des signaux au DUT et recevoir des signaux de la part du DUT; et une unité source d'énergie (ESU) servant à fournir du courant au DUT par l'intermédiaire de la DIB. L'ESU comprend des chemins de courant pour fournir du courant et les chemins de courant sont configurés pour limiter une inductance combinée des chemins de courant.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)