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1. (WO2016002729) SUBSTRAT POUR ANALYSE D'ÉCHANTILLON, DISPOSITIF D'ANALYSE D'ÉCHANTILLON, SYSTÈME D'ANALYSE D'ÉCHANTILLON ET PROGRAMME POUR SYSTÈME D'ANALYSE D'ÉCHANTILLON
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/002729    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/068724
Date de publication : 07.01.2016 Date de dépôt international : 29.06.2015
CIB :
G01N 35/00 (2006.01), G01N 35/08 (2006.01), G01N 37/00 (2006.01)
Déposants : PANASONIC HEALTHCARE HOLDINGS CO., LTD. [JP/JP]; 2-38-5 Nishishimbashi, Minato-ku, Tokyo 1058433 (JP)
Inventeurs : JOHNO Masahiro; .
OKAMOTO Fusatoshi;
Mandataire : OKUDA Seiji; (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-134779 30.06.2014 JP
Titre (EN) SUBSTRATE FOR SAMPLE ANALYSIS, SAMPLE ANALYSIS DEVICE, SAMPLE ANALYSIS SYSTEM, AND PROGRAM FOR SAMPLE ANALYSIS SYSTEM
(FR) SUBSTRAT POUR ANALYSE D'ÉCHANTILLON, DISPOSITIF D'ANALYSE D'ÉCHANTILLON, SYSTÈME D'ANALYSE D'ÉCHANTILLON ET PROGRAMME POUR SYSTÈME D'ANALYSE D'ÉCHANTILLON
(JA) 試料分析用基板、試料分析装置、試料分析システムおよび試料分析システム用プログラム
Abrégé : front page image
(EN)Provided inside a substrate (100) for sample analysis that transfers liquid through rotary motion are: a first chamber (102), a second chamber (103), a third chamber (104), a first flow path (110) connecting the first chamber and third chamber, and a second flow path (111) connecting the second chamber and third chamber. When the substrate is supported such that the axis of rotation thereof is tilted by more than 0° and at most 90° in relation to the direction of gravitational force and the substrate is rotated from a prescribed reference angle to angle A1, a first prescribed amount of a first liquid moves from the first chamber to the third chamber and a second prescribed amount of a second liquid moves from the second chamber to the third chamber. Additionally when the substrate is rotated from angle A1 to angle A2, a third prescribed amount of the first liquid moves from the first chamber to the third chamber, and a fourth prescribed amount of the second liquid moves from the second chamber to the third chamber.
(FR)A l'intérieur d'un substrat (100) pour analyse d'échantillon qui transfère le liquide par mouvement rotatif sont ménagés: une première chambre (102), une deuxième chambre (103), une troisième chambre (104), une première voie d'écoulement (110) reliant la première chambre et la troisième chambre, et une seconde voie d'écoulement (111) reliant la deuxième chambre et la troisième chambre. Lorsque le substrat est pris en charge de telle sorte que son axe de rotation est incliné de plus de 0° et de 90° maximum par rapport à la direction de la force de gravité et qu'il est mis en rotation d'un angle de référence prédéfini à un angle A1, une première quantité prédéfinie d'un premier liquide se déplace de la première chambre à la troisième chambre et une deuxième quantité prédéfinie d'un second liquide se déplace de la deuxième chambre à la troisième chambre. De plus, lorsque le substrat est mis en rotation de l'angle A1 à l'angle A2, une troisième quantité prédéfinie du premier liquide se déplace de la première chambre à la troisième chambre, et une quatrième quantité prédéfinie du deuxième liquide se déplace de la deuxième chambre à la troisième chambre.
(JA)回転運動によって液体の移送を行う試料分析用基板(100)内に第1チャンバー(102)、第2チャンバー(103)、第3チャンバー(104)、第1チャンバーと第3チャンバーを接続する第1流路(110)と、第2チャンバーと第3チャンバーを接続する第2流路(111)とを備え、基板の回転軸が重力方向に対して0°より大きく90°以下の角度で傾斜するように基板を支持し、所定の基準角度から角度A1で基板を回転させると、第1チャンバーから第1所定量の第1液体が第3チャンバーに移動するとともに、第2チャンバーから第2所定量の第2液体が第3チャンバーに移動し、さらに、角度A1から角度A2で基板を回転させると、第1チャンバーから第3所定量の第1液体が第3チャンバーに移動し、第2チャンバーから第4所定量の第2液体が第3チャンバーに移動する試料分析用基板
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)