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1. (WO2016002467) DISPOSITIF DE MESURE DE CONCENTRATION DE GAZ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/002467    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/066873
Date de publication : 07.01.2016 Date de dépôt international : 11.06.2015
CIB :
G01N 21/61 (2006.01), G01N 21/3504 (2014.01)
Déposants : MURATA MANUFACTURING CO., LTD. [JP/JP]; 10-1, Higashikotari 1-chome, Nagaokakyo-shi, Kyoto 6178555 (JP)
Inventeurs : YASUDA, Masaaki; (JP).
IKEDA, Yoshinori; (JP)
Mandataire : FUKAMI PATENT OFFICE, P.C.; Nakanoshima Central Tower, 2-7, Nakanoshima 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300005 (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-137787 03.07.2014 JP
Titre (EN) GAS CONCENTRATION MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE CONCENTRATION DE GAZ
(JA) ガス濃度測定装置
Abrégé : front page image
(EN)A gas concentration measurement device (100) is provided with: a light source (20) that emits infrared rays; a detector (60) that detects infrared rays via a bandpass filter (41); and a waveguide-forming member (90) comprising a waveguide section (93) that has a cylindrical inner peripheral surface shape, an inlet (91) that is formed on one side of the waveguide section (93) and that introduces infrared rays from the light source (20), and an outlet (92) that is formed on the other side of the waveguide section (93) and that leads infrared rays that have passed through the waveguide section (93) toward the detector (60) side. A tapered area in which the cross-sectional area decreases from the inlet (91) toward the outlet (92) is provided to a part or all of the inner peripheral surface of the waveguide section (93). The waveguide forming-member (90) attenuates the energy of infrared rays that enter obliquely with respect to the bandpass filter (41) by reflecting infrared rays that enter the waveguide section (93) from the inlet (91) toward the tapered area.
(FR)L'invention concerne un dispositif de mesure de concentration de gaz (100) qui comprend : une source de lumière (20) qui émet des rayons infrarouges ; un détecteur (60) qui détecte les rayons infrarouges par l'intermédiaire d'un filtre passe-bande (41) ; et un élément de formation de guide d'onde (90) comprenant une section de guide d'onde (93) qui a une forme de surface périphérique interne cylindrique, une entrée (91) qui est formée sur un premier côté de la section de guide d'onde (93) et qui introduit les rayons infrarouges provenant de la source de lumière (20), et une sortie (92) qui est formée sur l'autre côté de la section de guide d'onde (93) et qui mène les rayons infrarouges, qui sont passés à travers la section de guide d'onde (93), vers le côté de détecteur (60). Une zone effilée, dans laquelle l'aire transversale diminue de l'entrée (91) vers la sortie (92), est située sur une partie ou la totalité de la surface périphérique interne de la section de guide d'onde (93). L'élément de formation de guide d'onde (90) atténue l'énergie de rayons infrarouges qui entrent de façon oblique par rapport au filtre passe-bande (41) en réfléchissant les rayons infrarouges qui entrent dans la section de guide d'onde (93) de l'entrée (91) vers la zone effilée.
(JA) ガス濃度測定装置(100)は、赤外線を出射する光源(20)と、赤外線をバンドパスフィルタ(41)を介して検出する検出器(60)と、筒状の内周面形状を有する導波部(93)、導波部(93)の一方側に形成され光源(20)からの赤外線を導入する入口部(91)、および、導波部(93)の他方側に形成され導波部(93)を通過した赤外線を検出器(60)側に向けて導出する出口部(92)を含む導波路形成部材(90)と、を備える。導波部(93)の内周面の一部または全部には、入口部(91)から出口部(92)に向かうにつれて断面積が小さくなる先細領域が設けられており、導波路形成部材(90)は、入口部(91)から導波部(93)に進入した赤外線を先細領域に反射させることにより、バンドパスフィルタ(41)に対して斜め方向に入射する赤外線のエネルギーを減衰させる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)