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1. (WO2016002443) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE DISTANCE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/002443    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/066470
Date de publication : 07.01.2016 Date de dépôt international : 08.06.2015
CIB :
G01C 3/06 (2006.01), G01B 11/00 (2006.01)
Déposants : AZBIL CORPORATION [JP/JP]; 2-7-3,Marunouchi,Chiyoda-ku, Tokyo 1006419 (JP)
Inventeurs : FUJIWARA,Hisatoshi; (JP)
Mandataire : YAMAKAWA,Masaki; (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-138588 04.07.2014 JP
Titre (EN) DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE DISTANCE
(JA) 距離測定装置および方法
Abrégé : front page image
(EN)The present invention involves: first concentrating reflected light from an object (T) onto an imaginary spot (Q) by using a light-concentrating lens (14); thereafter, separating into two output light beams by using a two-surface half mirror (15); outputting from a first surface on which the reflected light is incident; using a photodetection element (16) to detect an interference fringe produced on a detection surface (I) by the two output light beams; extracting an interference fringe pitch (p) by computing the obtained detection results; and using a distance calculation unit (17) to calculate the target distance (a) from the light-collecting lens (14) to the object (T), on the basis of this pitch (p). As a result, it is possible to accurately measure the target distance (a) to an object (T) using an optical lens system having a simple configuration.
(FR)La présente invention consiste à : tout d'abord, concentrer la lumière réfléchie par un objet (T) sur un point imaginaire (Q) en utilisant une lentille de concentration de lumière (14) ; ensuite, la séparer en deux faisceaux de lumière de sortie en utilisant un demi-miroir à deux surfaces (15) ; délivrer en sortie à partir d'une première surface sur laquelle la lumière réfléchie est incidente ; utiliser un élément de photodétection (16) pour détecter une frange d'interférence produite sur une surface de détection (I) par les deux faisceaux lumineux de sortie ; extraire un pas (p) de frange d'interférence en calculant les résultats de détection obtenus ; et utiliser une unité de calcul de distance (17) pour calculer la distance cible (a) entre la lentille de collecte de lumière (14) et l'objet (T), sur la base de ce pas (p). Par conséquent, il est possible de mesurer avec précision la distance cible (a) à un objet (T) au moyen d'un système de lentille optique ayant une configuration simple.
(JA) 物体(T)からの反射光を集光レンズ(14)により虚スポット(Q)に一旦集光させた後、両面ハーフミラー(15)により2つの出力光に分離して、反射光が入射される第1面から出力し、これら2つの出力光により検出面(I)に生じた干渉縞を光検出素子(16)で検出し、得られた検出結果を演算処理して干渉縞のピッチ(p)を抽出し、距離算出部(17)でこのピッチ(p)に基づいて集光レンズ(14)から物体(T)までの対物距離(a)を算出する。これにより、簡素な構成の光学レンズ系により、物体(T)までの対物距離(a)を正確に測定することができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)