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1. (WO2016002354) DISPOSITIF DE MESURE, PROCÉDÉ DE MESURE ET PROGRAMME
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/002354    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/063780
Date de publication : 07.01.2016 Date de dépôt international : 13.05.2015
CIB :
G01N 21/17 (2006.01), A61B 5/1455 (2006.01), G01N 21/27 (2006.01), G01N 21/359 (2014.01)
Déposants : NEC CORPORATION [JP/JP]; 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001 (JP)
Inventeurs : FUKUSHIMA Yuhei; (JP).
SHINOZAKI Tsutomu; (JP).
SATO Yuichi; (JP).
NISHIMURA Nozomu; (JP).
FUKAI Toshiaki; (JP)
Mandataire : HAYAMI Shinji; (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-138028 03.07.2014 JP
Titre (EN) MEASUREMENT DEVICE, MEASUREMENT METHOD, AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF DE MESURE, PROCÉDÉ DE MESURE ET PROGRAMME
(JA) 測定装置、測定方法、及び、プログラム
Abrégé : front page image
(EN)A measurement device (10) having: a housing (100); an opening (102) provided in a portion of the housing (100); a transmission member (110) that is positioned within the opening (102), composes a portion of the housing (100), and transmits light of a first wavelength; a light emission unit (120) that is disposed inside the housing (100), irradiates light including the first wavelength, and is disposed in an orientation such that the optical axis thereof passes through the transmission member (110); a light detection unit (140) that is disposed within the housing (100) in an orientation such that the optical axis thereof passes through the transmission member (110) and that detects the light of the first wavelength; a reflection part (200) that reflects light of the first wavelength; and a movement unit (201) for moving the reflection part (200) and positioning the same in a first position not overlapping the optical axis of the light emission unit (120) or a second position overlapping the optical axis of the light emission unit (120) at which the light emitted by the light emission unit (120) is reflected in the direction of the light detection unit (140).
(FR)L'invention concerne un dispositif de mesure (10) qui possède : un boîtier (100) ; une ouverture (102) formée dans une partie du boîtier (100) ; un élément de transmission (110), qui est positionné à l'intérieur de l'ouverture (102), qui compose une partie du boîtier (100) et transmet la lumière d'une première longueur d'onde ; une unité d'émission de lumière (120), qui est disposée à l'intérieur du boîtier (100), qui irradie la lumière comprenant la première longueur d'onde et qui est disposée dans une orientation de telle sorte que son axe optique passe à travers l'élément de transmission (110) ; une unité de détection de lumière (140), qui est disposée à l'intérieur du boîtier (100) d'une telle façon que son axe optique passe à travers l'élément de transmission (110) et qui détecte la lumière de la première longueur d'onde ; une partie de réflexion (200) qui réfléchit la lumière de la première longueur d'onde ; une unité de mouvement (201) pour déplacer la partie de réflexion (200) et la positionner dans une première position ne chevauchant pas l'axe optique de l'unité d'émission de lumière (120) ou dans une seconde position chevauchant l'axe optique de l'unité d'émission de lumière (120) au niveau de laquelle la lumière émise par l'unité d'émission de lumière (120) est réfléchie dans la direction de l'unité de détection de lumière (140).
(JA) 筐体(100)と、筐体(100)の一部に設けられた開口(102)と、開口(102)内に位置し、筐体(100)の一部を構成しており、第1波長の光を透過する透過部材(110)と、筐体(100)の内部に配置され、第1波長を含む光を放射し、光軸が透過部材(110)を通る向きに配置されている発光部(120)と、筐体(100)の内部に、光軸が透過部材(110)を通る向きに配置され、第1波長の光を検出する光検出部(140)と、第1波長の光を反射する反射部(200)と、反射部(200)を移動させ、発光部(120)の光軸と重ならない第1の位置、又は、発光部(120)の光軸と重なり、発光部(120)が放射した光を光検出部(140)の方向に反射する第2の位置に位置させる移動部(201)と、を有する測定装置(10)。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)