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1. (WO2015179237) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE MESURE DE DÉFAUTS DANS DES MATÉRIAUX FERROMAGNÉTIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/2015/179237 N° de la demande internationale : PCT/US2015/031092
Date de publication : 26.11.2015 Date de dépôt international : 15.05.2015
CIB :
G01N 27/82 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
27
Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi de moyens électriques, électrochimiques ou magnétiques
72
en recherchant des variables magnétiques
82
pour rechercher la présence des criques
Déposants :
THE CHARLES STARK DRAPER LABORATORY, INC. [US/US]; 555 Technology Square Cambridge, MA 02139, US
Inventeurs :
DAVIS, Almir, D.; US
TRINKLE, William, J.; US
GUSTAFSON, Donald; US
BABCOCK, Philip, S. IV; US
BERTHOLD, Richard, T.; US
Mandataire :
SUNSTEIN, Bruce, D.; US
Données relatives à la priorité :
61/994,96118.05.2014US
Titre (EN) SYSTEM AND METHOD OF MEASURING DEFECTS IN FERROMAGNETIC MATERIALS
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE MESURE DE DÉFAUTS DANS DES MATÉRIAUX FERROMAGNÉTIQUES
Abrégé :
(EN) Defects in ferromagnetic materials are detected and characterized by analyzing the items' magnetic fields to find portions of the magnetic fields that differ in characteristic ways from residual magnetic fields generated by non-defective portions of the items. The portions of the magnetic fields that differ in the characteristic ways correspond to locations of the defects. The residual magnetic fields correspond to portions of the items distant from the defects. The defect characterization may include volume of material lost due to each defect and/or width and/or depth of each defect.
(FR) Selon la présente invention, des défauts dans des matériaux ferromagnétiques sont détectés et caractérisés par analyse des champs magnétiques d'articles pour identifier des parties des champs magnétiques qui diffèrent de façons caractéristiques des champs magnétiques résiduels générés par des parties non défectueuses des articles. Les parties des champs magnétiques qui diffèrent des façons caractéristiques correspondent aux emplacements des défauts. Les champs magnétiques résiduels correspondent à des parties des articles distantes des défauts. La caractérisation de défaut peut comprendre le volume de matériau perdu dû à chaque défaut et/ou la largeur et/ou la profondeur de chaque défaut.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)
Also published as:
CA2949220SG11201609631WEP3146323AU2015264529CN106537134JP2017516111
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