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1. (WO2015178400) PROCÉDÉ DE MESURE D'ABSORPTION TRANSITOIRE ET DISPOSITIF DE MESURE D'ABSORPTION TRANSITOIRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/2015/178400 N° de la demande internationale : PCT/JP2015/064390
Date de publication : 26.11.2015 Date de dépôt international : 20.05.2015
CIB :
G01N 21/27 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25
Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
27
en utilisant la détection photo-électrique
Déposants :
株式会社ユニソク UNISOKU CO., LTD. [JP/JP]; 大阪府枚方市春日野2丁目4番3号 4-3, Kasugano 2-chome, Hirakata-shi, Osaka 5730131, JP
Inventeurs :
中川 達央 NAKAGAWA, Tatsuo; JP
岡本 基土 OKAMOTO, Kido; JP
花田 啓明 HANADA, Hiroaki; JP
Mandataire :
福本 将彦 FUKUMOTO, Masahiko; JP
Données relatives à la priorité :
2014-10610922.05.2014JP
Titre (EN) TRANSIENT ABSORPTION MEASUREMENT METHOD AND TRANSIENT ABSORPTION MEASUREMENT DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE D'ABSORPTION TRANSITOIRE ET DISPOSITIF DE MESURE D'ABSORPTION TRANSITOIRE
(JA) 過渡吸収測定方法及び過渡吸収測定装置
Abrégé :
(EN) In the present invention, a pumped light source for repeatedly generating pumped light pulses and a probe light source for generating probe light pulses at each pumped light pulse that have offset delay times in relation to the pumped light pulse at a repeating time interval shorter than that of the pumped light pulses are used to repeatedly irradiate pumped light pulses onto a sample and repeatedly irradiate probe light pulses onto the sample at each pump light pulse irradiation. Detecting the intensities of the probe light pulses passing through the sample and measuring the delay time offset for each pumped light irradiation makes it possible to obtain transient absorption measurement data for the sample on the basis of probe light pulse intensity detection data, which is obtained at a time density thicker than the time density of the repetition of the probe light pulses. As a result, it is possible to measure, using a simple structure, a transient absorption characteristic at a plurality of times in a short period of time in a wide time range including a 5 ns to 50 ns time range.
(FR) Selon la présente invention, une source lumineuse de pompage permettant de générer de manière répétée des impulsions lumineuses de pompage et une source lumineuse de sonde permettant de générer des impulsions lumineuses de sonde à chaque impulsion lumineuse de pompage qui ont des temps de retard décalés par rapport à l'impulsion lumineuse de pompage à un intervalle de temps de répétition plus court que celui des impulsions lumineuses de pompage sont utilisées pour exposer de manière répétée un échantillon à des impulsions lumineuses de pompage et exposer de manière répétée l'échantillon à des impulsions lumineuses de sonde à chaque exposition aux impulsions lumineuses de pompage. La détection des intensités des impulsions lumineuses de sonde passant par l'échantillon et la mesure du décalage du temps de retard pour chaque exposition aux impulsions lumineuses de pompage permettent d'obtenir des données de mesure d'absorption transitoire pour l'échantillon sur la base de données de détection d'intensité d'impulsions lumineuses de sonde, qui sont obtenues à une densité de temps plus épaisse que la densité de temps de la répétition des impulsions lumineuses de sonde. En conséquence, il est possible de mesurer, à l'aide d'une structure simple, une caractéristique d'absorption transitoire plusieurs fois au cours d'une courte période dans une large plage de temps comprenant une plage de temps de 5 ns à 50 ns.
(JA)  ポンプ光パルスを繰り返し生成するポンプ光源と、ポンプ光パルス毎に当該ポンプ光パルスに対する遅延時間がずれるプローブ光パルスを、ポンプ光パルスよりも短い繰り返し時間間隔で生成するプローブ光源と、を用いることにより、ポンプ光パルスを試料に繰り返し照射するとともに、ポンプ光パルスの1回の照射毎に、プローブ光パルスを試料に繰り返し照射する。試料を通過したプローブ光パルスの強度を検出するとともに、遅延時間のずれをポンプ光照射ごとに計測することにより、前記プローブ光パルスの繰り返しの時間密度よりも緻密な時間密度で得られるプローブ光パルスの強度の検出データが得に基づいて、試料の過渡吸収測定データを得る。それにより、簡素な構造で、5ナノ秒~50ナノ秒の時間領域を含む幅広い時間領域において、短時間で多数時刻における過渡吸収特性の測定が可能となる。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)