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1. (WO2015176805) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE DE LA GÉOMÉTRIE D'UN OBJET
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Patentansprüche

1 . Vorrichtung zur geometrischen Vermessung eines Objekts (14), mit:

- einer Basis (1 1 ) und mit einer daran angeordneten Trägereinrichtung

( 12) für das Objekt (14),

- zumindest einem gegenüber der Basis (11 ) fixierbaren Referenzobjekt (18, 20) und mit

- zumindest einer Abstandsmesseinrichtung (70), mittels welcher ein Abstand zwischen dem Referenzobjekt (18, 20) und der dem Referenzobjekt (18, 20) zugewandten Oberfläche (14a, 14b) des Objekts (14) bestimmbar ist, und mit

- einem eine Oberseite (104) und eine Unterseite (106) aufweisenden Objekthalter (100), an welchem das Objekt (14) fixierbar ist, wobei der Objekthalter (100) wahlweise in einer ersten Orientierung (1 ) und in einer zweiten Orientierung (2) an der Trägereinrichtung (12) anordenbar ist,

- wobei die Abstandsmesseinrichtung (70) und der Objekthalter (100) zum Abscannen der Oberfläche (14a, 14b) des Objekts (14) relativ

zueinander beweglich sind und wobei der Objekthalter (100) an seiner Oberseite (104) und an seiner Unterseite (106) jeweils eine der

Relativbewegung von Objekthalter (100) und Abstandsmesseinrichtung (70) korrespondierende Referenzstruktur (108, 1 10) aufweist.

2. Vorrichtung nach Anspruch 1 , wobei der Objekthalter (100) außerhalb eines Aufnahmebereichs (124) für das Objekt (14) an seiner Oberseite (104) eine obere Referenzstruktur (108) und an seiner Unterseite (106) eine untere Referenzstruktur (1 10) aufweist.

3. Vorrichtung nach Anspruch 2, wobei die obere Referenzstruktur (108)

zusammen mit der an der Oberseite (104) des Objekthalters (100)

vorgesehenen Oberfläche (14a) des Objekts (14) und die untere

Referenzstruktur (1 10) zusammen mit der an der Unterseite (106) des

Objekthalters (100) vorgesehenen Oberfläche (14b) des Objekts (14) abscannbar ist.

4. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ferner mit einer Steuerung (60), mittels welcher die einander gegenüberliegenden an

Oberseite (104) und Unterseite (106) des Objekthalters (100) vorgesehenen und mittels der Abstandsmesseinrichtung (70) abgescannten Oberflächen (14a, 14b) des Objekts (14) mittels der mit den Objektoberflächen (14a, 14b) abgescannten oberen und unteren Referenzstrukturen (108, 1 10) einander zuordenbar sind.

5. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der

Objekthalter (100) zwischen seiner Oberseite (104) und seiner Unterseite (106) eine von außen zugängliche äußere Referenzstruktur (1 12) aufweist.

6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die

Abstandsmesseinrichtung (70) relativ zu zumindest einem von Referenzobjekt (18, 20) und Trägereinrichtung (12) in einer Ebene (x, z) beweglich ist.

7. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der

Objekthalter ( 100) drehbar an der Trägereinrichtung (12) gelagert ist.

8. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der

Objekthalter ( 100) linear translatorisch an der Trägereinrichtung (12) gelagert ist.

9. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die

Abstandsmesseinrichtung (70) einen gegenüber dem Referenzobjekt (18, 20) beweglichen Halter (26) aufweist, an welchem ein Referenzkörper (28), ein erster Abstandssensor (34) und ein zweiter Abstandssensor (36) angeordnet sind, wobei der erste und der zweite Abstandssensor (34, 36) relativ zum Referenzkörper (28) drehbar gelagert sind.

10. Vorrichtung nach Anspruch 9, wobei zumindest ein als Abstandssensor

ausgestalteter Referenzsensor (46, 48) am Halter (26) angeordnet ist, mittels welchem ein Abstand (46, 48) und/oder eine Ausrichtung des Halters (26) relativ zum Referenzobjekt (18, 20) bestimmbar ist.

Verfahren zur geometrischen Vermessung eines Objekts ( 14) mittels einer 11. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, mit den Schritten:

- Anordnen des mit einem zu vermessenden Objekt (14) versehenen Objekthalters (100) in einer ersten Orientierung (1 ) an der Trägereinrichtung (12),

- Abscannen einer ersten Oberfläche (14a) des Objekts (14) und einer oberen Referenzstruktur (108) des Objekthalters (100) mittels der Abstandsmesseinrichtung (70) und Erzeugen eines ersten Oberflächenabbilds (4)

- Anordnen des Objekthalters (100) in einer zweiten Orientierung (2) an der Trägereinrichtung (12),

- Abscannen einer zweiten Oberfläche (14b) des Objekts (14) und einer unteren Referenzstruktur (1 10) des Objekthalters (100) mittels der - Abstandsmesseinrichtung (70) und Erzeugen eines zweiten

Oberflächenabbilds (5)

Zuordnen des ersten und des zweiten Oberflächenabbilds (4, 5) anhand der oberen und unteren Referenzstrukturen (108, 1 10).

12. Verfahren nach Anspruch 1 1 , wobei das Abscannen von einer von erster und zweiter Oberfläche (14a, 14b) und von einer jeweils zugehörigen

Referenzstruktur (108, 1 10) zeitlich nacheinander mit der

Abstandsmesseinrichtung (70) erfolgt.

1 3. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche 11 oder 12, wobei zumindest eine von oberer und unterer Referenzstruktur (108, 1 10) oder zumindest eine der Oberflächen (14a, 14b) des Objekts (14) mit einer äußeren Referenzstruktur (1 12) des Objekthalters (100) abgescannt wird.

1 4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche 1 1 bis 13, wobei das Abscannen von zumindest einer Referenzstruktur (108, 1 10, 1 12) und von zumindest einer Oberfläche (14a, 14b) des Objekts (14) mit derselben Abstandsmesseinrichtung (70) erfolgt.

15. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche 10 bis 14, wobei aus einer wechselseitigen Zuordnung von erstem und zweitem Oberflächenabbild (4, 5) zumindest die Dicke des Objekts (14) und/oder ein Keilfehler des Objekts (14) ermittelt wird.

16. Computerprogramm zur geometrischen Vermessung eines Objekts (14) mittels einer Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche 1 bis 10, mit:

- Programmmitteln zum Abscannen einer ersten Oberfläche (14a) des Objekts (14) und einer oberen Referenzstruktur (108) des in einer ersten Orientierung (1 ) an der Trägereinrichtung (12) angeordneten Objekthalters (100) und zur Erzeugung eines ersten

Oberflächenabbilds (4) des Objekts (14),

- Programmmitteln zum Abscannen einer zweiten Oberfläche (14b) des Objekts (14) und einer unteren Referenzstruktur (1 10) des in einer zweiten Orientierung (2) an der Trägereinrichtung (12) angeordneten Objekthalters (100) und zur Erzeugung eines zweiten

Oberflächenabbilds (5) des Objekts (14), und

- Programmmitteln zum Zuordnen des ersten und des zweiten

Oberflächenabbilds (4, 5) anhand der oberen und unteren Referenzstrukturen (108, 1 10).