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1. (WO2015143290) COMPOSITIONS ACRYLIQUES DURCIES EN DEUX ÉTAPES ET PROCÉDÉS ASSOCIÉS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/143290    N° de la demande internationale :    PCT/US2015/021696
Date de publication : 24.09.2015 Date de dépôt international : 20.03.2015
CIB :
C09D 4/06 (2006.01), C09D 11/101 (2014.01)
Déposants : AVERY DENNISON CORPORATION [US/US]; 207 Goode Avenue Glendale, CA 91203 (US)
Inventeurs : EPPLE, Thomas, C.; (US).
MEDSKER, Robert; (US)
Mandataire : BEMBENICK, Brian, G.; (US)
Données relatives à la priorité :
61/968,425 21.03.2014 US
Titre (EN) DUAL STAGE CURED ACRYLIC COMPOSITIONS AND RELATED METHODS
(FR) COMPOSITIONS ACRYLIQUES DURCIES EN DEUX ÉTAPES ET PROCÉDÉS ASSOCIÉS
Abrégé : front page image
(EN)Various methods involving a sequential, dual stage cure are described. The methods utilize a first stage UV cure which is sequentially followed by a second stage electron beam cure. An array of compositions are also described, many of which are acrylate based.
(FR)L'invention concerne divers procédés impliquant un durcissement séquentiel en deux étapes. Les procédés utilisent une première étape de durcissement aux UV qui est suivie de manière séquentielle par une seconde étape de durcissement par un faisceau d'électrons. L'invention concerne également une série de compositions, dont un grand nombre sont à base d'acrylate.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)