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1. (WO2015142424) ANALYSE OPTIQUE DE PARTICULES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/142424    N° de la demande internationale :    PCT/US2015/013323
Date de publication : 24.09.2015 Date de dépôt international : 28.01.2015
CIB :
G01N 15/02 (2006.01), G01N 15/06 (2006.01)
Déposants : MOXTEK, INC [US/US]; 452 West 1260 North Orem, Utah (US).
MODAWAR, Faris [US/US]; (US)
Inventeurs : MODAWAR, Faris; (US)
Mandataire : HOBSON, Garron; (US)
Données relatives à la priorité :
61/955,573 19.03.2014 US
14/606,848 27.01.2015 US
Titre (EN) OPTICAL PARTICLE ANALYSIS
(FR) ANALYSE OPTIQUE DE PARTICULES
Abrégé : front page image
(EN)A system (10, 20) and method for determining particle size, shape, and/or quantity. The particle (14) can alter the polarization state of two oppositely-polarized light beams (4a, 4b) from two polarized light emitters (13a, 13b), thus allowing the light beams to interfere with each other. An interference pattern (6) from interference of the two light beams can be captured by a CCD (15). The interference pattern can be analyzed to determine size, shape, and/or quantity.
(FR)La présente invention concerne un système (10, 20) et un procédé de détermination de la taille, de la forme et/ou de la quantité de particules. La particule (14) peut modifier l'état de polarisation de deux faisceaux lumineux polarisés de manière opposée (4a, 4b) issus de deux émetteurs de lumière polarisée (13a, 13b), permettant ainsi aux faisceaux lumineux d'interférer l'un avec l'autre. Un motif d'interférence (6) de l'interférence des deux faisceaux lumineux peut être capturé par un CCD (15). Le motif d'interférence peut être analysé pour déterminer la taille, la forme, et/ou la quantité.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)