WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2015142234) ESSAI DE DISPOSITIFS OPTIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/142234    N° de la demande internationale :    PCT/SE2014/050332
Date de publication : 24.09.2015 Date de dépôt international : 20.03.2014
CIB :
H04L 12/26 (2006.01), G06F 11/36 (2006.01)
Déposants : TELEFONAKTIEBOLAGET LM ERICSSON (PUBL) [SE/SE]; SE-164 83 Stockholm (SE)
Inventeurs : NORRMAN, Karl; (SE).
BEN HENDA, Noamen; (SE)
Mandataire : EGRELIUS, Fredrik; Ericsson AB Patent Unit Kista DSM SE-16480 Stockholm (SE)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) TESTING OF ELECTRONIC DEVICES
(FR) ESSAI DE DISPOSITIFS OPTIQUES
Abrégé : front page image
(EN)There is provided testing of an electronic device. A set of test cases is acquired. Each test case represents a sequence of instructions for the electronic device to act on and to generate responses to. The test cases are divided into K > 1 batches, each of length m, of test cases at least based four parameters. A test routine is performed for each batch i, i=i...K in turn. The test routine involves instructing the electronic device to perform an action based on test cases in batch i. The test routine involves monitoring any results associated with the test cases in batch i from the electronic device as provided in at least one monitoring event. The test routine involves forcing the electronic device into an initial state between each batch of test cases.
(FR)La présente invention concerne l'essai d'un dispositif électronique. Un ensemble de jeux d'essai est acquis. Chaque jeu d'essai représente une séquence d'instructions permettant au dispositif électronique d'agir et de générer des réponses en fonction de ces instructions. Les jeux d'essai sont divisés en K > 1 lots, chacun de longueur m, de jeux d'essai basés au moins sur quatre paramètres. Une routine d'essai est effectuée pour chaque lot i, i=i...K à tour de rôle. La routine d'essai consiste à donner l'instruction au dispositif électronique d'effectuer une action basée sur des jeux d'essai dans le lot i. La routine d'essai consiste à surveiller tout résultat associé aux jeux d'essai dans le lot i provenant du dispositif électronique tel que fourni dans au moins un événement de surveillance. La routine d'essai consiste à forcer le dispositif électronique à passer à un état initial entre chaque lot de jeux d'essai.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)