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1. (WO2015141828) DISPOSITIF D'INSPECTION ET PROCÉDÉ D'INSPECTION À GUIDES D'ONDES OPTIQUES MULTIPLES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/141828    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/058467
Date de publication : 24.09.2015 Date de dépôt international : 20.03.2015
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    15.01.2016    
CIB :
G01N 21/78 (2006.01)
Déposants : UNIVERSAL BIO RESEARCH CO.,LTD. [JP/JP]; 88, Kamihongou, Matsudo-shi, Chiba 2710064 (JP)
Inventeurs : TAJIMA Hideji; (JP)
Mandataire : DOBASHI Akira; (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-059164 20.03.2014 JP
Titre (EN) LIGHTGUIDE AGGREGATE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION ET PROCÉDÉ D'INSPECTION À GUIDES D'ONDES OPTIQUES MULTIPLES
(JA) 導光集積検査装置およびその検査方法
Abrégé : front page image
(EN)The purpose of this lightguide aggregate inspection device and inspection method thereof is to quickly and efficiently perform inspections for multiple reaction spots. This inspection device is provided with: a reaction spot array comprising multiple reaction spot array elements having at least one reaction spot; a light receiving element array which has a light-receiving surface on which, corresponding to the reaction spot array elements, multiple light-receiving regions are provided which have at least one light-receiving element and which receive light based on the optical state resulting from reactions at each reaction spot; multiple lightguide paths which are provided corresponding to the reaction spot array elements, each of the lightguide paths having a measurement end which is close to or in contact with, or can move close to or can move into contact with, one reaction spot, and a connection end provided to be close to or in contact with the light-receiving region; a digital data conversion unit which, at a prescribed period, converts, into digital data, image region data obtained from the light-receiving element corresponding to the light-receiving region; and a storage means which sequentially stores said data.
(FR)L'objet de la présente invention est que ce dispositif d'inspection à guides d'ondes optiques multiples et le procédé d'inspection associé réalisent rapidement et efficacement des inspections pour plusieurs points de réaction. Ledit dispositif d'inspection est pourvu de : un réseau de points de réaction comprenant de multiples éléments de réseau de points de réaction possédant au moins un point de réaction ; un réseau d'éléments de réception de lumière qui a une surface de réception de lumière sur laquelle, correspondant aux éléments de réseau de points de réaction, de multiples régions de réception de lumière sont formées et comportent au moins un élément de réception de lumière et qui reçoivent de la lumière sur la base de l'état optique obtenu de réactions en chaque point de réaction ; de multiples trajets de guides d'ondes optiques correspondant aux éléments de réseau de points de réaction, chacun des trajets de guides d'ondes optiques présentant une extrémité de mesure qui est proche de ou en contact avec, ou peut se déplacer à proximité de ou peut se déplacer en contact avec, un point de réaction, et une extrémité de connexion formée pour être à proximité de ou en contact avec la région de réception de lumière ; une unité de conversion de données numériques qui, à une période prescrite, convertit, en données numériques, des données de région d'image obtenues à partir de l'élément de réception de lumière correspondant à la région de réception de lumière ; et un moyen de stockage qui stocke de manière séquentielle lesdites données.
(JA) 導光集積検査装置およびその検査方法に関し、複数の反応スポットについて検査する場合に、迅速かつ効率的に行うことを目的とする。 少なくとも1の反応スポットを有する複数の反応スポット配列子からなる反応スポット配列体と、各反応スポット配列子に対応して、各々少なくとも1個の受光素子を有し各反応スポットでの反応による光学的状態に基く光を受光する複数の受光領域が設けられた受光面を有する受光素子アレイと、反応スポット配列子に対応して設けられ、1の反応スポットに近接もしくは接触しまたは近接可能もしくは接触可能に設けられた測定端、および受光領域に近接もしくは接触するように設けた接続端を各々有する複数の導光路と、受光領域に対応する前記受光素子から得られる画領域データを所定周期でディジタルデータに変換するディジタルデータ変換部と、該データを順次格納する格納手段と、を有するように構成する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)