WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2015141025) ÉLÉMENT OPTIQUE ET DISPOSITIF DE DÉTECTION DE LUMIÈRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/141025    N° de la demande internationale :    PCT/JP2014/072929
Date de publication : 24.09.2015 Date de dépôt international : 01.09.2014
CIB :
G02B 3/00 (2006.01), H01L 31/0232 (2014.01)
Déposants : KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA [JP/JP]; 1-1, Shibaura 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058001 (JP)
Inventeurs : ASANO, Yusaku; (JP)
Mandataire : HYUGAJI, Masahiko; (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-053556 17.03.2014 JP
Titre (EN) OPTICAL ELEMENT AND LIGHT DETECTION DEVICE
(FR) ÉLÉMENT OPTIQUE ET DISPOSITIF DE DÉTECTION DE LUMIÈRE
(JA) 光学素子及び光検出装置
Abrégé : front page image
(EN)An optical element according to an embodiment of the present invention comprises a first surface, a second surface that is opposite the first surface, and a first area. A first refractive index of the first area is asymmetrical with respect to a first axis that: passes through a first position at which the first refractive index is highest or lowest within the first area; and that is parallel to a first thickness direction that is oriented toward the second surface from the first surface within the first area.
(FR)Selon un mode de réalisation de la présente invention, un élément optique comporte une première surface, une seconde surface, qui est opposée à la première surface, et une première zone. Un premier indice de réfraction de la première zone est asymétrique par rapport à un premier axe : qui passe à travers une première position, dans laquelle le premier indice de réfraction est le plus élevé ou le plus faible dans la première zone ; qui est parallèle à une première direction d'épaisseur qui est orientée vers la seconde surface à partir de la première surface à l'intérieur de la première zone.
(JA) 実施形態によれば、光学素子は、第1面と、前記第1面とは反対の第2面と、を有し、第1領域を含む。前記第1領域の第1屈折率は、前記第1領域のなかで前記第1屈折率が最高または最低となる第1位置を通り、前記第1領域のなかの前記第1面から前記第2面に向かう第1厚さ方向に対して平行な第1軸に対して非対称である。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)