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1. (WO2015139402) APPAREIL DE TEST À BASSE IMPÉDANCE ASYMÉTRIQUE HAUTE FRÉQUENCE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/139402    N° de la demande internationale :    PCT/CN2014/083056
Date de publication : 24.09.2015 Date de dépôt international : 25.07.2014
CIB :
G01R 1/04 (2006.01)
Déposants : SHANGHAI LIANXING ELECTRONIC COMPANY LIMITED [CN/CN]; Room 1513, Hong Nan Invest Building, No. 939 Jinqiao Road, Pudong New Area Shanghai 200120 (CN)
Inventeurs : CONG, Mifang; (CN).
LI, Ke; (CN).
REN, Jianwei; (CN).
LI, Yongqiang; (CN).
DU, Huan; (CN)
Mandataire : BEIJING BRIGHT & RIGHT LAW FIRM; Suite 1008, Kuntai Int'l Mansion, B12 Chaowai Avenue, Chaoyang District Beijing 100020 (CN)
Données relatives à la priorité :
201410102906.4 19.03.2014 CN
Titre (EN) RADIO-FREQUENCY ASYMMETRICAL LOW-IMPEDANCE TEST FIXTURE
(FR) APPAREIL DE TEST À BASSE IMPÉDANCE ASYMÉTRIQUE HAUTE FRÉQUENCE
(ZH) 射频非对称低阻抗测试夹具
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to the technical field of radio-frequency microwave measurement, and particularly to a radio-frequency asymmetrical low-impedance test fixture. The test fixture comprises: a PCB board (7) and a bottom plate (9). The left side of the PCB board (7) is provided with a first impedance conversion unit (1), and the right side of the PCB board (7) is provided with a second impedance conversion unit (2). The first impedance conversion unit (1) and the second impedance conversion unit (2) are respectively composed of a group of gradually varied microstrip lines, wherein the widths of all microstrip lines of each group of microstrip lines are the same, and the lengths of each group of microstrip lines regularly change in order from small to big and then in order from big to small in the arrangement direction. The PCB board (7) is connected to the upper end of the bottom plate (9). The provided radio-frequency asymmetrical low-impedance test fixture can effectively increase the real part of the impedance of a transistor to be tested, solve the source problem of oscillation, and prevent a device to be tested from being burnt, thereby guaranteeing that the radio frequency and microwave performance of the device to be tested are fully played.
(FR)La présente invention concerne le domaine technique de la mesure de micro-ondes haute fréquence, et porte en particulier sur un appareil de test à basse impédance asymétrique haute fréquence. L'appareil de test comprend : une carte de circuits imprimés (7) et une plaque inférieure (9). Le côté gauche de la carte de circuits imprimés (7) comporte une première unité de conversion d'impédance (1), et le côté droit de la carte de circuits imprimés (7) comporte une seconde unité de conversion d'impédance (2). La première unité de conversion d'impédance (1) et la seconde unité de conversion d'impédance (2) sont respectivement constituées par un groupe de lignes microbande variant graduellement, les largeurs de toutes les lignes microbande de chaque groupe de lignes microbande étant identiques, une longueur de chaque groupe de lignes microbande changeant dans l'ordre de petite à grande, puis dans l'ordre de grande à petite dans la direction de disposition. La carte de circuits imprimés (7) est connectée à l'extrémité supérieure de la plaque inférieure (9). L'appareil de test à basse impédance asymétrique haute fréquence procuré peut accroître efficacement la partie réelle de l'impédance d'un transistor à tester, résoudre le problème source d'oscillation, et empêcher un dispositif à tester d'être brûlé, de façon à garantir ainsi que les performances à haute fréquence et de micro-ondes du dispositif à tester sont totalement présentées.
(ZH)涉及射频微波测量技术领域,特别涉及一种射频非对称低阻抗测试夹具,包括:PCB板(7)及底板(9)。PCB板(7)的左侧设置有第一阻抗变换单元(1),PCB板(7)的右侧设置有第二阻抗变换单元(2)。第一阻抗变换单元(1)和第二阻抗变换单元(2)分别由一组渐变的微带线组成,每组所述微带线中的每条微带线的宽度相同,每组微带线的长度在排列方向上按照从小到大,再从大到小的规律变化。PCB板(7)连接在底板(9)的上端。提供的射频非对称低阻抗测试夹具,可以有效的提高待测晶体管的阻抗实部,解决振荡的源头问题,防止烧毁待测试器件,保证待测试器件射频、微波性能充分发挥。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)