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1. (WO2015138388) ENSEMBLE DE SONDES DE CIRCUIT INTÉGRÉ SUR TRANCHE ET PROCÉDÉ DE CONSTRUCTION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/138388    N° de la demande internationale :    PCT/US2015/019602
Date de publication : 17.09.2015 Date de dépôt international : 10.03.2015
CIB :
G01R 1/067 (2006.01), G01R 1/073 (2006.01), H01R 12/71 (2011.01), H01R 13/24 (2006.01)
Déposants : JOHNSTECH INTERNATIONAL CORPORATION [US/US]; 1210 New Brighton Boulevard Minneapolis, Minnesota 55413 (US)
Inventeurs : EDWARDS, Jathan; (US).
MARKS, Charles; (US).
HALVORSON, Brian; (US)
Mandataire : LASKY, Michael, B.; (US)
Données relatives à la priorité :
61/950,404 10.03.2014 US
Titre (EN) WAFER LEVEL INTEGRATED CIRCUIT PROBE ARRAY AND METHOD OF CONSTRUCTION
(FR) ENSEMBLE DE SONDES DE CIRCUIT INTÉGRÉ SUR TRANCHE ET PROCÉDÉ DE CONSTRUCTION
Abrégé : front page image
(EN)A testing device for wafer level testing of IC circuits is disclosed. An upper and lower pin (22, 62) are configured to slide relatively to each other and are held in electrically biased contact by an elastomer (80). To prevent rotation of the pins in the pin guide, a walled recess in the bottom of the pin guide engages flanges on the pins. In another embodiment, the pin guide maintains rotational alignment by being fitted around the pin profile or having projections abutting the pin. The pin guide (12) is maintained in alignment with the retainer 14 by establishing a registration corner (506) and driving the guide into the corner by elastomers in at least one diagonally opposite corner.
(FR)L'invention concerne un dispositif de test pour permettre un test sur tranche de circuits intégrés. Des broches supérieure et inférieure (22, 62) sont configurées de sorte à coulisser relativement l'une par rapport à l'autre et sont maintenues en un contact électriquement polarisé par un élastomère (80). Pour empêcher la rotation des broches dans le guide de broche, un évidement à paroi dans la partie inférieure du guide de broche vient en prise avec des rebords formés sur les broches. Selon un autre mode de réalisation, le guide de broche maintient un alignement rotationnel en étant ajusté autour du profil de broche ou comportant des saillies venant en butée contre la broche. Le guide de broche (12) est maintenu en alignement avec le dispositif de retenue (14) par l'établissement d'un coin d'enregistrement (506) et l'entraînement du guide dans le coin par des élastomères dans au moins un coin diagonalement opposé.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)