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1. (WO2015137074) DISPOSITIF, PROCÉDÉ ET PROGRAMME DE MESURE DE COMPOSANT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/137074    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/054540
Date de publication : 17.09.2015 Date de dépôt international : 19.02.2015
CIB :
G01N 21/78 (2006.01), G01N 21/27 (2006.01)
Déposants : TERUMO KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 44-1, Hatagaya 2-chome, Shibuya-ku, Tokyo 1510072 (JP)
Inventeurs : OCHIAI, Shouji; (JP).
MORIUCHI, Takeyuki; (JP).
TAKINAMI, Masao; (JP)
Mandataire : CHIBA Yoshihiro; (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-052206 14.03.2014 JP
Titre (EN) COMPONENT MEASUREMENT DEVICE, METHOD, AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF, PROCÉDÉ ET PROGRAMME DE MESURE DE COMPOSANT
(JA) 成分測定装置、方法及びプログラム
Abrégé : front page image
(EN)A component measurement device (10) determines a function form expressing the wavelength characteristic of an amount of change caused by scattering (S(λ)); calculates one or more coefficients (p, q) as unknown quantities on the basis of a first relational expression including an amount of change caused by absorption (H(λ1)) and a group of second relational expressions not including amounts of change caused by absorption (H(λ2a), H(λ2b), H(λ2c)); and at least removes the influence of scattered light by using a function arrived at by applying the one or more coefficients (p, q) to the function form to correct an absorbance measured at an arbitrary wavelength (λ).
(FR)L'invention concerne un dispositif de mesure de composant (10) qui détermine une forme de fonction exprimant la caractéristique de longueur d'onde d'une quantité de variation provoquée par diffusion (S (λ)) ; calcule un ou plusieurs coefficients (p, q) en tant que quantités inconnues sur la base d'une première expression relationnelle comprenant une quantité de variation provoquée par absorption (H (λ1)) et un groupe de secondes expressions relationnelles ne comprenant pas de quantités de variation provoquée par absorption (H (λ2a), H (λ2b), H (λ2c)) ; et au moins élimine l'influence de la lumière diffusée en utilisant une fonction à laquelle on est arrivé en appliquant les un ou plusieurs coefficients (p, q) à la forme de fonction pour corriger une absorbance mesurée à une longueur d'onde arbitraire (λ).
(JA) 成分測定装置(10)は、散乱起因変化量(S(λ))の波長特性を示す関数形を決定する。そして、吸収起因変化量(H(λ1))を含む第1関係式及び吸収起因変化量(H(λ2a)、H(λ2b)、H(λ2c))を含まない一群の第2関係式に基づいて、未知数としての1つ以上の係数(p,q)を算出する。そして、1つ以上の係数(p,q)を上記の関数形に適用した関数を用いて、任意の波長(λ)にて測定された吸光度を補正することで、少なくとも光散乱の影響を除去する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)