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1. (WO2015136847) DISPOSITIF D'ANALYSE DE CONDITION D'AFFICHAGE, PROCÉDÉ D'ANALYSE DE CONDITION D'AFFICHAGE, ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT DE PROGRAMME
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/136847    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/000775
Date de publication : 17.09.2015 Date de dépôt international : 19.02.2015
CIB :
G06Q 30/02 (2012.01), G06Q 30/06 (2012.01)
Déposants : NEC CORPORATION [JP/JP]; 7-1,Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001 (JP)
Inventeurs : HIGA, Kyota; (JP).
BAO, Ruihan; (JP).
SATO, Takami; (JP).
MASE, Ryota; (JP).
IWAMOTO, Kota; (JP)
Mandataire : SHIMOSAKA, Naoki; (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-049001 12.03.2014 JP
Titre (EN) DISPLAY CONDITION ANALYSIS DEVICE, DISPLAY CONDITION ANALYSIS METHOD, AND PROGRAM RECORDING MEDIUM
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE DE CONDITION D'AFFICHAGE, PROCÉDÉ D'ANALYSE DE CONDITION D'AFFICHAGE, ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT DE PROGRAMME
(JA) 陳列状況解析装置、陳列状況解析方法およびプログラム記録媒体
Abrégé : front page image
(EN)Disclosed is a display condition analysis device which is capable of analyzing the display conditions of products. This display condition analysis device is provided with: a product recognition means for recognizing, from a display image taken of products on display, the products in the display image; and a display condition analysis means for analyzing, on the basis of the positions of the recognized products, the display conditions of the products on display.
(FR)L'invention concerne un dispositif d'analyse de condition d'affichage, qui peut analyser les conditions d'affichage de produits. Ce dispositif d'analyse de condition d'affichage comprend : un moyen de reconnaissance de produit pour reconnaître, à partir d'une image d'affichage prise de produits sur le dispositif d'affichage, les produits dans l'image d'affichage ; et un moyen d'analyse de condition d'affichage pour analyser, sur la base des positions des produits reconnus, les conditions d'affichage des produits sur le dispositif d'affichage.
(JA) 物品の陳列状況を解析できる陳列状況解析装置が開示される。係る陳列状況解析装置は、陳列された物品が撮影された陳列画像から、当該陳列画像中の物品を認識する物品認識手段と、認識された物品の位置に基づいて、陳列された物品の陳列状況を解析する陳列状況解析手段とを備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)