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1. (WO2015136125) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE CORRECTION DES COURBURES DE PLAQUES EN CARTON PENDANT LEUR PROCESSUS DE FABRICATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/136125    N° de la demande internationale :    PCT/ES2014/070172
Date de publication : 17.09.2015 Date de dépôt international : 10.03.2014
CIB :
B31F 1/28 (2006.01)
Déposants : EANTON LEC, S.L.N.E. [ES/ES]; Avenida Ronda de Andalucía, 8 E-41804 Olivares (Sevilla) (ES)
Inventeurs : LANTERO MACHIERALDO, Alfonso; (ES).
SAHAGUN CASANOVA, Francisco; (ES).
ANTÓN ACOSTA, Enrique; (ES)
Mandataire : UNGRIA LÓPEZ, Javier; Avenida Ramón y Cajal, 78 E-28043 Madrid (ES)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) METHOD AND SYSTEM FOR CORRECTING CURVATURES OF CARDBOARD SHEETS DURING THE PRODUCTION PROCESS THEREOF
(ES) MÉTODO Y SISTEMA DE CORRECCIÓN DE CURVATURAS DE PLANCHAS DE CARTÓN DURANTE SU PROCESO DE FABRICACIÓN
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE CORRECTION DES COURBURES DE PLAQUES EN CARTON PENDANT LEUR PROCESSUS DE FABRICATION
Abrégé : front page image
(EN)The method comprises: producing the cardboard; applying pressure to the cardboard produced, by means of a m x n matrix of vertically moveable pads (7) in order to produce flat cardboard; cutting the cardboard into sheets (15); and measuring the curvature of the sheets (15). The method is characterised by establishing different groups (A1-A32) of pads (7) of the m x n matrix, wherein: an identical vertical pressing/lifting movement control is applied to each group of pads; each control to be applied to each group of pads is calculated in order to correct the measured curvature of the sheets, based on the measured curvature; and each of the calculated controls is simultaneously applied to each group of pads in order to automatically correct the curvature of the sheets (15). The apparatus is designed to carry out the preceding steps.
(ES)Método y sistema de corrección de curvaturas de planchas de cartón durante su proceso de fabricación. El método comprende fabricar el cartón, aplicar presión al cartón fabricado mediante una matriz m x n de patines (7) desplazables verticalmente para obtener un cartón plano, cortar el cartón en planchas (15), medir la curvatura de las planchas (15); se caracteriza por establecer diferentes agrupaciones (A1-A32) de patines (7) de la matriz m x n, donde a cada agrupación de patines se le aplica un mismo control de desplazamiento vertical de empuje/elevación, se calcula cada control a aplicar a cada agrupación de patines para corregir la curvatura medida de las planchas, a partir de la curvatura medida, y se aplica simultáneamente cada uno de los controles calculados a cada agrupación de patines para corregir automáticamente la curvatura de las planchas (15). El aparato está configurado para realizar las fases anteriores.
(FR)La présente invention concerne un procédé et un système de correction des courbures de plaques en carton pendant leur processus de fabrication. Le procédé consiste à fabriquer le carton, à appliquer une pression au carton fabriqué au moyen d'une matrice m x n de patins (7) mobiles dans le sens vertical pour obtenir un carton plan, à couper le carton sous forme de plaques (15), à mesurer la courbure des plaques (15); lequel procédé est caractérisé en ce qu'on détermine différentes groupes (A1-A32) de patins (7) de la matrice m x n, chaque groupe de patins étant soumis à une même commande de déplacement vertical de poussée/levage, on calcule une commande à appliquer à chaque groupe de patins pour corriger la courbure mesurée des plaques, à partir de la courbe mesurée et on applique simultanément chacune des commandes calculées à chaque groupe de patins pour corriger automatiquement la courbure des plaques (15). L'appareil est configuré pour réaliser les phases précédentes.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : espagnol (ES)
Langue de dépôt : espagnol (ES)