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1. (WO2015135580) ÉTALONNAGE AUTOMATIQUE D'UN DISPOSITIF DE SOUS-STATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/135580    N° de la demande internationale :    PCT/EP2014/054815
Date de publication : 17.09.2015 Date de dépôt international : 12.03.2014
CIB :
H04L 29/08 (2006.01), H02J 13/00 (2006.01)
Déposants : SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2 80333 Munich (DE)
Inventeurs : HEINE, Holger; (DE).
LINDNER, Oliver; (DE)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) AUTOMATIC CALIBRATION OF A SUBSTATION DEVICE
(FR) ÉTALONNAGE AUTOMATIQUE D'UN DISPOSITIF DE SOUS-STATION
Abrégé : front page image
(EN)A method for calibrating one or more merging units (104) by using one or more substation devices and merging unit calibration system is disclosed. The system includes one or more testing devices (102) for generating one or more test patterns and one or more merging units for generating one or more sampled measured values from the one or more test patterns. The system also includes one or more substation devices for generating one or more coefficients for one or more filters wherein the one or more coefficients are generated from a comparison of the one or more sampled measured values with the one or more test patterns.
(FR)L'invention concerne un procédé d'étalonnage d'une ou plusieurs unités de fusion (104) par utilisation d'un ou plusieurs dispositifs de sous-station et d'un système d'étalonnage d'unité de fusion. Le système comprend un ou plusieurs dispositifs de test (102) pour générer un ou plusieurs modèles de tests et une ou plusieurs unités de fusion pour générer une ou plusieurs valeurs de mesure échantillonnées à partir du ou des modèles de test. Le système comprend également un ou plusieurs dispositifs de sous-station pour générer un ou plusieurs coefficients pour un ou plusieurs filtres, le ou les coefficients étant générés à partir d'une comparaison de la ou des valeurs de mesure échantillonnées avec le ou les modèles de test.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)