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1. (WO2015133337) APPAREIL ET PROCÉDÉ DE CRIBLAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/133337    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/055277
Date de publication : 11.09.2015 Date de dépôt international : 24.02.2015
CIB :
C12Q 1/02 (2006.01), G01N 15/14 (2006.01)
Déposants : FURUKAWA ELECTRIC CO., LTD. [JP/JP]; 2-3, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008322 (JP)
Inventeurs : KIMURA Kenichi; (JP).
XU Jie; (JP).
TSUKII Ken; (JP).
TAKAHASHI Toru; (JP).
MATSUNAGA Mariko; (JP)
Mandataire : EINSEL Felix-Reinhard; (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-044914 07.03.2014 JP
Titre (EN) SCREENING APPARATUS AND SCREENING METHOD
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ DE CRIBLAGE
(JA) スクリーニング装置およびスクリーニング方法
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a screening apparatus capable of accurately and efficiently exchanging the liquid inside a container holding microparticles and of improving the accuracy of fractionation. The screening apparatus (1) is provided with: a measurement chip (60), which is formed from a light-transmitting material and in which wells for holding a microparticle-containing liquid are formed; a measurement unit (14) for measuring optical information generated by the microparticles held in the measurement chip; and an analysis unit (15) for analyzing the optical information and extracting optical information about the microparticles held in the well. A fixing member (120) for the measurement chip (60) comprises: a liquid-holding section (129) formed on the measurement chip (60); a discharge port (121h) for discharging liquid held in the liquid-holding section; a flow channel (121i) for sending the liquid from the discharge port to the outside; an introduction port (121c) for introducing liquid into the liquid-holding section (129); and a flow channel (121e) for supplying the liquid to the introduction port. The screening apparatus (1) is also provided with a liquid surface control unit (200) for controlling the height of the liquid surface in the liquid-holding section (129).
(FR)La présente invention se rapporte à un appareil de criblage permettant de remplacer efficacement et avec précision le liquide à l'intérieur d'un récipient contenant des microparticules et d'améliorer la précision de fractionnement. L'appareil de criblage (1) comprend : une puce de mesure (60), qui est formée à partir d'un matériau de transmission de lumière et dans lequel sont formés des puits pour retenir un liquide contenant des microparticules ; une unité de mesure (14) pour mesurer des informations optiques générées par les microparticules retenues dans la puce de mesure; et une unité d'analyse (15) pour analyser des informations optiques, et extraire des informations optiques relatives aux microparticules retenues dans le puits. Un élément de fixation (120) de la puce de mesure (60) comprend : une section de retenue de liquide (129) formée sur la puce de mesure (60) ; un orifice d’évacuation (121h) pour évacuer le liquide retenu dans la section de retenue de liquide; un canal d'écoulement (121i) pour envoyer le liquide de l'orifice d’évacuation vers l'extérieur; un orifice d'introduction (121c) pour introduire le liquide dans la section de retenue de liquide (129); et un canal d'écoulement (121e) pour amener le liquide vers l'orifice d'introduction. L'appareil de criblage (1) comprend également une unité de régulation de la surface du liquide (200) pour réguler la hauteur de la surface du liquide dans la section de retenue de liquide (129).
(JA) 微細粒子を収容する容器内の液体を正確且つ効率的に置換することができ、分取精度を向上することが可能なスクリーニング装置を提供する。 スクリーニング装置(1)は、光透過性材料で形成され、微細粒子を含む液体が収容されるウェルが形成された計測用チップ(60)と、該計測用チップに収容された微細粒子が発する光情報を計測する計測部(14)と、該光情報を解析して、ウェル内に収容されている微細粒子の光情報を抽出する解析部(15)とを備える。計測用チップ(60)の固定部材(120)は、計測用チップ(60)上に形成された液体保持部(129)と、該液体保持部に保持された液体を排出するための排出口(121h)と、該排出口から液体を外部に送出する流路(121i)と、液体保持部(129)に液体を導入するための導入口(121c)と、該導入口に液体を供給するための流路(121e)とを有する。またスクリーニング装置(1)は、液体保持部(129)の液面高さを制御する液面制御部(200)を備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)