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1. (WO2015133053) SYSTEME DE MESURE, PROCEDE DE MESURE ET PUCE DE VISION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/133053    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/000272
Date de publication : 11.09.2015 Date de dépôt international : 22.01.2015
CIB :
G01B 11/25 (2006.01)
Déposants : PANASONIC INTELLECTUAL PROPERTY CORPORATION OF AMERICA [US/US]; 20000 Mariner Avenue, Suite 200, Torrance, California 90503 (US)
Inventeurs : FUCHIKAMI, Ryuji; (JP)
Mandataire : TOKUDA, Yoshiaki; (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-043467 06.03.2014 JP
2014-240115 27.11.2014 JP
Titre (EN) MEASUREMENT SYSTEM, MEASUREMENT METHOD, AND VISION CHIP
(FR) SYSTEME DE MESURE, PROCEDE DE MESURE ET PUCE DE VISION
(JA) 計測システム、計測方法およびビジョンチップ
Abrégé : front page image
(EN)A measurement system (100) is provided with a projection device (102) for projecting first pattern light, which expresses first pattern projection images including first pattern images corresponding to a specific bit in a Gray code obtained by Gray coding projected coordinates defined by a projected coordinate system and second pattern images having the same period as the first pattern images and a different phase than the first pattern images, onto a subject in accordance with a projection sequence mixing the projection of the first and second pattern images, and at least one photography device (101) for photographing the first pattern light projected onto the subject and generating a photographed image.
(FR)L'invention concerne un système de mesure (100) comportant un dispositif de projection (102) servant à projeter sur un sujet un premier motif lumineux, qui exprime des premières images de motif de projection, y compris des premières images de motif correspondant à un bit spécifique dans un code Gray obtenu par le codage Gray de coordonnées projetées, définies par un système de coordonnées projetées, et des deuxièmes images de motif présentant la même période que les premières images de motif et une phase différente par rapport aux premières images de motif, selon une séquence de projection mélangeant les premières et deuxièmes images de motif ; et au moins un dispositif de photographie (101) servant à photographier le premier motif lumineux projeté sur le sujet et à produire une image photographiée.
(JA) 計測システム(100)は、投影座標系で規定される投影座標をグレイコード化して得られるグレイコードの特定のビットに対応した第1のパターン画像と、第1のパターン画像と同じ周期を有し、かつ、第1のパターン画像と異なる位相を有する第2のパターン画像と、を含む第1のパターン投影画像を示す第1のパターン光を、第1および第2のパターン画像の投影が混在した投影シーケンスに従って被写体に投影する投影装置(102)と、被写体に投影された第1のパターン光を撮像し、撮像画像を生成する少なくとも1つの撮像装置(101)と、を備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)