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1. (WO2015131348) PROCÉDÉ ET APPAREIL D'ÉTALONNAGE D'UNE TENSION DE RÉFÉRENCE INTERNE D'UNE PUCE DE CIRCUIT INTÉGRÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/131348    N° de la demande internationale :    PCT/CN2014/072906
Date de publication : 11.09.2015 Date de dépôt international : 05.03.2014
CIB :
G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : SHINRY TECHNOLOGIES CO., LTD [CN/CN]; 14/F, Block C1, Nanshan Zhiyuan No.1001, Xueyuan Blvd Nanshan District, Shenzhen, Guangdong 518055 (CN)
Inventeurs : LIU, Pengfei; (CN).
ZHENG, Yusheng; (CN)
Mandataire : GUANGZHOU SCIHEAD PATENT AGENT CO.. LTD; Room 1508, Huihua Commercial & Trade Building No. 80, XianLie Zhong Road, Yuexiu Guangzhou, Guangdong 510070 (CN)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR CALIBRATING INTERNAL REFERENCE VOLTAGE OF INTEGRATED CIRCUIT CHIP
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL D'ÉTALONNAGE D'UNE TENSION DE RÉFÉRENCE INTERNE D'UNE PUCE DE CIRCUIT INTÉGRÉ
(ZH) 一种集成电路芯片内部参考电压的校准方法、装置
Abrégé : front page image
(EN)A method and an apparatus for calibrating an internal reference voltage of an integrated circuit chip, said method comprising: utilizing a constant supply voltage connected to the integrated circuit chip as a baseline voltage for analog-to-digital conversion initialization of said integrated circuit chip; and, calibrating the internal reference voltage of the integrated circuit chip on the basis of the baseline voltage. Calibrating the internal reference voltage of the integrated circuit chip comprises: collecting an internal reference voltage value of the integrated circuit chip, and setting said reference voltage value as a reference voltage calibration value. The invention further comprises a method and an apparatus that use an internal reference voltage calibrated by means of the described calibration method so as to calibrate data collected by the integrated circuit chip. Use of the described technical solution allows for simple and convenient calibration of a reference voltage of an integrated circuit chip, so as to calibrate data collected by the integrated circuit chip, thereby ensuring data accuracy.
(FR)L'invention concerne un procédé et un appareil pour étalonner une tension de référence interne d'une puce de circuit intégré, ledit procédé comprenant : utilisation d'une tension d'alimentation constante raccordée à la puce de circuit intégré en tant que tension de ligne de base pour l'initialisation de la conversion analogique/numérique de ladite puce de circuit intégré ; et étalonnage de la tension de référence interne de la puce de circuit intégré en se basant sur la tension de ligne de base. L'étalonnage de la tension de référence interne de la puce de circuit intégré comprend : la collecte d'une valeur de tension de référence interne de la puce de circuit intégré, et le réglage de ladite valeur de tension de référence en tant que valeur d'étalonnage de la tension de référence. L'invention concerne en outre un procédé et un appareil qui utilisent une tension de référence interne étalonnée au moyen du procédé d'étalonnage décrit de manière à étalonner des données collectées par la puce de circuit intégré. L'utilisation de la solution technique décrite permet un étalonnage simple et commode d'une tension de référence d'une puce de circuit intégré, de manière à étalonner des données collectées par la puce de circuit intégré, ce qui permet de garantir la précision de données.
(ZH)一种集成电路芯片内部参考电压的校准方法和装置,校准方法包括:将与所述集成电路芯片连接的恒定供电电压作为所述集成电路芯片模数转换初始化的基准电压;根据所述基准电压,对所述集成电路芯片内部的参考电压进行校准;其中,所述对所述集成电路芯片内部的参考电压进行校准包括:采集所述集成电路芯片内部的参考电压值,将参考电压校准值设置为所述参考电压值。相应地,还包括一种利用通过上述校准方法校准的内部参考电压来对集成电路芯片采集的数据进行校准的方法和装置。采用上述技术方案,可简单方便地对集成电路芯片的参考电压进行校准,进而对集成电路芯片采集的数据进行校准,保证了数据的准确性。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)