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1. (WO2015131264) DÉTERMINATION DE L'ÉPAISSEUR D'UN PRODUIT EN BANDE PAR INTERFÉROMÉTRIE PAR BALAYAGE DE LONGUEURS D'ONDE DANS L'INFRAROUGE MOYEN
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/131264    N° de la demande internationale :    PCT/CA2015/000102
Date de publication : 11.09.2015 Date de dépôt international : 19.02.2015
CIB :
G01B 11/06 (2006.01), D21F 7/06 (2006.01)
Déposants : HONEYWELL LIMITED [CA/CA]; 3333 Unity Drive Mississauga, Ontario L5L 3S6 (CA)
Inventeurs : HUGHES, Michael Kon Yew; (US).
TIXIER, Sebastien; (US).
SAVARD, Stephane; (US)
Mandataire : MANOLAKIS, Emmanuel; Gowling WLG (Canada) LLP 1 Place Ville-Marie, 37th Floor Montréal, Québec H3B 3P4 (CA)
Données relatives à la priorité :
14/197,181 04.03.2014 US
Titre (EN) THICKNESS DETERMINATION OF WEB PRODUCT BY MID-INFRARED WAVELENGTH SCANNING INTERFEROMETRY
(FR) DÉTERMINATION DE L'ÉPAISSEUR D'UN PRODUIT EN BANDE PAR INTERFÉROMÉTRIE PAR BALAYAGE DE LONGUEURS D'ONDE DANS L'INFRAROUGE MOYEN
Abrégé : front page image
(EN)Non-contacting caliper measurements of free-standing sheets detect mid-IR interferometric fringes created by the reflection of light from the top and bottom surfaces of the sheet. The technique includes directing a laser beam at a selected angle of incidence onto a single spot on the exposed outer surface and scanning the laser beam through a selected wavelength range as the laser beam is directed onto the exposed outer surface and measuring the intensity of an interference pattern that forms from the superposition of radiation that is reflected from the exposed outer surface and from the inner surface. Alternatively, the intensity of an interference pattern formed from the superposition of radiation that is directly transmitted through the web and radiation that is transmitted through the web after internal reflections from the internal surfaces of the web. Thickness can be extracted from the fringe separation in the interference pattern.
(FR)Selon l'invention, des mesures micrométriques sans contact de feuilles libres permettent de détecter des franges d'interférométrie dans l'infrarouge moyen créées par la réflexion de la lumière depuis les surfaces supérieure et inférieure de la feuille. La technique consiste: à diriger un faisceau laser, selon un angle d'incidence choisi, sur un point unique de la surface extérieure exposée, et à balayer le faisceau laser selon une gamme de longueurs d'onde choisie, pendant que le faisceau laser est dirigé sur la surface extérieure exposée. Elle consiste ensuite à mesurer l'intensité d'un diagramme d'interférence formé par la superposition de rayonnements réfléchis de la surface extérieure exposée et de la surface intérieure. En variante, l'intensité d'un diagramme d'interférence formé par la superposition d'un rayonnement transmis directement à travers la bande et d'un rayonnement transmis à travers la bande, après l'occurrence de réflexions internes, à partir des surfaces intérieures de la bande. Un valeur d'épaisseur peut être déduite de la séparation de franges dans le diagramme d'interférence.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)