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1. (WO2015130733) PROCÉDÉS DE PROFILAGE DE TOPOGRAPHIES DE SURFACE DE STRUCTURES ABSORBANTES DANS DES ARTICLES ABSORBANTS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/130733    N° de la demande internationale :    PCT/US2015/017426
Date de publication : 03.09.2015 Date de dépôt international : 25.02.2015
CIB :
A61F 13/15 (2006.01)
Déposants : THE PROCTER & GAMBLE COMPANY [US/US]; One Procter & Gamble Plaza Cincinnati, Ohio 45202 (US)
Inventeurs : VARGA, Stephen, Michael; (US).
VAN DER KLUGT, Walter, Pieter Hendrik Laurentius; (DE).
GABER, Rene; (DE)
Mandataire : GUFFEY, Timothy B.; (US)
Données relatives à la priorité :
61/945,893 28.02.2014 US
Titre (EN) METHODS FOR PROFILING SURFACE TOPOGRAPHIES OF ABSORBENT STRUCTURES IN ABSORBENT ARTICLES
(FR) PROCÉDÉS DE PROFILAGE DE TOPOGRAPHIES DE SURFACE DE STRUCTURES ABSORBANTES DANS DES ARTICLES ABSORBANTS
Abrégé : front page image
(EN)The present disclosure relates to methods and apparatuses for sensing distortions in patterns of reflected light to create profiles representing surface topographies of absorbent structures during the manufacture of absorbent articles. Inspection systems may include sensors arranged adjacent an advancing absorbent structure on a converting line. In turn, a controller may monitor and affect various operations on the converting line. The inspection systems herein may also include a radiation source that illuminates a surface of an absorbent structure with a predetermined pattern of light extending in the cross direction CD. The sensor senses distortions in patterns of light reflected from the illuminated surface of the absorbent structure and triangulates changes in elevation of the illuminated surface of the absorbent structure relative to the sensor. Based on the triangulated changes in elevation, the sensor creates a profile representing a surface topography of the illuminated surface of the absorbent structure.
(FR)L'invention concerne des procédés et des appareils permettant de détecter des déformations dans des motifs de lumière réfléchie pour créer des profils représentant des topographies de surface de structures absorbantes pendant la fabrication d'articles absorbants. Des systèmes de contrôle peuvent comprendre des capteurs disposés de manière adjacente à une structure absorbante avançant sur une chaîne de transformation. À son tour, un dispositif de commande peut surveiller et affecter différentes opérations sur la chaîne transformation. Les systèmes de contrôle de l'invention peuvent également comprendre une source de rayonnement qui éclaire la surface de la structure absorbante avec un motif prédéterminé de lumière évoluant dans le sens transversal. Le capteur détecte les déformations dans des motifs de lumière réfléchie par la surface éclairée de la structure absorbante, et triangule les variations de l'élévation de la surface éclairée de la structure absorbante par rapport au capteur. D'après les variations triangulées de l'élévation, le capteur crée un profil représentant une topographie de surface de la surface éclairée de la structure absorbante.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)