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1. (WO2015129003) DISPOSITIF D'INSPECTION DE CURSEUR DE MACHINE D'ASSEMBLAGE DE CURSEUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/129003    N° de la demande internationale :    PCT/JP2014/054963
Date de publication : 03.09.2015 Date de dépôt international : 27.02.2014
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    04.11.2015    
CIB :
A44B 19/42 (2006.01)
Déposants : YKK CORPORATION [JP/JP]; 1, Kanda Izumi-cho, Chiyoda-ku, Tokyo 1018642 (JP)
Inventeurs : NAKAMURA, Yutaka; (JP)
Mandataire : SATO, Yoshiaki; Pros Nishi-Shimbashi Building, 4-3, Nishi-Shimbashi 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1050003 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) SLIDER INSPECTION DEVICE FOR SLIDER ASSEMBLY MACHINE
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION DE CURSEUR DE MACHINE D'ASSEMBLAGE DE CURSEUR
(JA) スライダー組立機のスライダー検査装置
Abrégé : front page image
(EN)An inspection device for a slider assembly machine. The inspection device inspects the fastening of a lock pin (3) of a slider (100) that has fastened to a body section (1) thereof the lock pin (3) and a pull (2). The inspection device has an inspection bar (82) that presses down on the pull (2) of the slider (100) and causes a pawl part (3c) of the lock pin (3) to be displaced from an element guide path (1d) of the body section (1), and has a laser sensor (83) that detects the position of the pawl part (3c) of the lock pin (3) when the pawl part (3c) of the lock pin (3) has been pushed out of the element guide path (1d) of the body section (1). The inspection device uses the laser sensor (83) to detect the position of the pawl part (3c) and can inspect whether the lock pin (3) of the slider (100) is attached to the body section (1) so as to return by spring force.
(FR)L'invention concerne un dispositif d'inspection pour une machine d'assemblage de curseur. Le dispositif d'inspection inspecte la fixation d'une goupille de blocage (3) d'un curseur (100) à une section de corps (1) duquel sont fixées la goupille de blocage (3) et une tirette (2). Le dispositif d'inspection comporte une barre d'inspection (82) qui exerce une pression vers le bas sur la tirette (2) du curseur (100) et amène une partie cliquet (3c) de la goupille de blocage (3) à être déplacée à partir d'une voie de guidage d'élément (1d) de la section de corps (1), et comporte un capteur laser (83) qui détecte la position de la partie cliquet (3c) de la goupille de blocage (3) lorsque la partie cliquet (3c) de la goupille de blocage (3) a été poussée à l'extérieur de la voie de guidage d'élément (1d) de la section de corps (1). Le dispositif d'inspection utilise le capteur laser (83) pour détecter la position de la partie cliquet (3c) et peut inspecter si la goupille de blocage(3) du curseur (100) est fixée à la section de corps (1) de manière à revenir sous l'effet de la force du ressort.
(JA) 胴体(1)に引手(2)及びロックピン(3)を組み付けたスライダー(100)のロックピン(3)の組み付けを検査するスライダー組立機の検査装置とする。 スライダー(100)の引手(2)を押し下げてロックピン(3)の爪部(3c)が胴体(1)のエレメント案内路(1d)から抜け出た姿勢とする検査バー(82)と、ロックピン(3)の爪部(3c)が胴体(1)のエレメント案内路(1d)に突出した姿勢のロックピン(3)の爪部(3c)の位置を検出するレーザセンサ(83)を有し、そのレーザセンサ(83)で爪部(3c)の位置を検出してスライダー(100)のロックピン(3)がバネ力で復帰するように胴体(1)に組み付けてあるかを検査できるようにする。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)