WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2015128459) SYSTÈME DE SONDE AYANT DE MULTIPLES EMPLACEMENTS D'ACTIONNEMENT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/128459    N° de la demande internationale :    PCT/EP2015/054128
Date de publication : 03.09.2015 Date de dépôt international : 27.02.2015
CIB :
G01Q 10/04 (2010.01), G01Q 10/06 (2010.01), G01Q 70/10 (2010.01)
Déposants : INFINITESIMA LIMITED [GB/GB]; 1 Hitching Court Blacklands Way Abingdon OX14 1RG (GB)
Inventeurs : HUMPHRIS, Andrew; (GB)
Mandataire : RIBEIRO, James; (GB)
Données relatives à la priorité :
14157211.5 28.02.2014 EP
Titre (EN) PROBE SYSTEM WITH MULTIPLE ACTUATION LOCATIONS
(FR) SYSTÈME DE SONDE AYANT DE MULTIPLES EMPLACEMENTS D'ACTIONNEMENT
Abrégé : front page image
(EN)A probe system comprising a probe with first and second arms and a probe tip carried by the first and second arms. An illumination system is arranged to deform the probe by illuminating the first arm at a first actuation location and the second arm at a second actuation location each with a respective illumination power. An actuation controller is arranged to independently control the illumination power at each actuation location in order to control the height and tilt angle of the probe and thus height and lateral position of the tip. The first and second arms are mirror images of each other on opposite sides of a plane of symmetry passing through the probe tip. A detection system is provided which not only measures a height of the probe tip to generate a height signal, but also measures a tilt angle of the probe to generate a tilt signal from which the lateral position of the tip can be determined.
(FR)L'invention concerne un système de sonde qui comporte une sonde ayant des premier et second bras et une pointe de sonde portée par les premier et second bras. Un système d'éclairage est conçu pour déformer la sonde en éclairant le premier bras à un premier emplacement d'actionnement et le second bras à un second emplacement d'actionnement avec une puissance d'éclairage respective. Une unité de commande d'actionnement est conçue pour commander indépendamment la puissance d'éclairage à chaque emplacement d'actionnement de façon à commander la hauteur et l'angle d'inclinaison de la sonde et, ainsi, la hauteur et la position latérale de la pointe. Les premier et second bras sont des images en miroir l'un de l'autre sur des côtés opposés d'un plan de symétrie passant par la pointe de sonde. L'invention concerne un système de détection qui non seulement mesure une hauteur de la pointe de sonde pour générer un signal de hauteur, mais mesure également un angle d'inclinaison de la sonde pour générer un signal d'inclinaison à partir duquel peut être déterminée la position latérale de la pointe.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)