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1. (WO2015128431) DISPOSITIF ET SYSTÈME DE CAPTEUR DE DÉPLACEMENT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/128431    N° de la demande internationale :    PCT/EP2015/054069
Date de publication : 03.09.2015 Date de dépôt international : 26.02.2015
CIB :
G01D 5/38 (2006.01), G01P 15/093 (2006.01)
Déposants : PGS GEOPHYSICAL AS [NO/NO]; Lilleakerveien 4 C N-0216 Oslo (NO)
Inventeurs : JOHANSEN, Ib-Rune; (NO).
LACOLLE, Matthieu; (NO).
BAKKE, Thor; (NO).
VOGL, Andreas; (NO).
WANG, Dag Thorstein; (NO).
KNUDSEN, Sverre; (NO).
LØVHAUGEN, Odd; (NO).
ANGELSKÅR, Hallvard; (NO).
SKOCIC, Zeljko; (NO)
Mandataire : LORD, Michael; Gill Jennings & Every LLP The Broadgate Tower 20 Primrose Street London EC2A 2ES (GB)
Données relatives à la priorité :
20140263 28.02.2014 NO
Titre (EN) DISPLACEMENT SENSOR DEVICE AND SYSTEM
(FR) DISPOSITIF ET SYSTÈME DE CAPTEUR DE DÉPLACEMENT
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a displacement sensor device and the system including the device, wherein the device comprises a first at least partially transparent plane surface with a first diffraction pattern and a second plane surface comprising a second reflecting diffraction pattern. The diffractive patterns being adapted to diffract light within a chosen range of wavelengths, the second surface being positioned below and parallel to the first surface constituting a pair wherein said first and second diffractive patterns being essentially equal, the device also comprising displacement means for allowing a movement in a direction parallel to said surfaces, the device thus providing a movement sensitive diffraction pattern.
(FR)La présente invention porte sur un dispositif de capteur de déplacement et sur le système comprenant le dispositif, lequel dispositif comprend une première surface plane au moins partiellement transparente avec un premier motif de diffraction et une seconde surface plane comprenant un second motif de diffraction réfléchissant. Les motifs de diffraction sont adaptés de façon à diffracter la lumière à l'intérieur d'une plage de longueur d'onde choisie, la seconde surface étant positionnée en dessous de la première surface et parallèlement à celle-ci, constituant une paire dans laquelle lesdits premier et second de motifs de diffraction sont essentiellement égaux, le dispositif comprenant également des moyens de déplacement pour permettre un mouvement dans une direction parallèle auxdites surfaces, le dispositif produisant ainsi un motif de diffraction sensible au mouvement.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)