WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2015128168) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE CLASSIFICATION ET/OU GÉNÉRATION DE BITS ALÉATOIRES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/128168    N° de la demande internationale :    PCT/EP2015/052486
Date de publication : 03.09.2015 Date de dépôt international : 06.02.2015
CIB :
H03K 3/84 (2006.01), H03K 3/03 (2006.01)
Déposants : SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2 80333 München (DE)
Inventeurs : DICHTL, Markus; (DE)
Données relatives à la priorité :
10 2014 203 649.6 28.02.2014 DE
Titre (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM KLASSIFIZIEREN UND/ODER ERZEUGEN VON ZUFALLSBITS
(EN) METHOD AND DEVICE FOR CLASSIFYING AND/OR GENERATING RANDOM BITS
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE CLASSIFICATION ET/OU GÉNÉRATION DE BITS ALÉATOIRES
Abrégé : front page image
(DE)Ein Verfahren und eine Vorrichtung (1) zum Klassifizieren und/oder Erzeugen von Zufallsbits (ZB) wobei das Verfahren die Schritte umfasst: Bereitstellen (S1) von Ausgangssignalen (A1 - An) von logischen Elementen (21- 2n) eines Ringoszillatorschaltkreises (2), wobei die logische Elemente (21 - 2m) zumindest teilweise rückgekoppelt sind und jeweils ein Eingangssignal (E1 - En) in ein Ausgangssignal (A1 - An) ausgeben; gleichzeitiges Erfassen (S2) von mehreren Ausgangssignalen (Ap - Aq) verschiedener logischer Elemente (2p -2q) des Ringoszillatorschaltkreises (2) zum Erzeugen von Prüfbits (Pp - Pq); Zuordnen (S3) der gleichzeitig erfassten Prüfbits (Pp - Pq) zu einem jeweiligen Bitmuster (BMi); und Klassifizieren (S4) eines ausgewählten Ausgangssignals (An) als zufälliges Zufallssignal (ZS) oder als nichtzufällig in Abhängigkeit von einer Häufigkeit der aufgetretenen Bitmuster (Bi).
(EN)The invention relates to a method and a device (1) for classifying and/or generating random bits (ZB). The method has the following steps: providing (S1) output signals (A1 - An) from logic elements (21 - 2n) of a ring oscillator circuit (2), said logic elements (21 - 2m) being at least partly fed back and outputting a respective input signal (E1 - En) ) into an output signal (A1 - An); detecting (S2) multiple output signals (Ap - Aq) of different logic elements (2p-2q) of the ring oscillator circuit (2) at the same time in order to generate test bits (Pp - Pq); assigning (S3) the test bits (Pp - Pq) detected at the same time to a respective bit pattern (BMi); and classifying (S4) a selected output signal (An) as a random signal (ZS) or as nonrandom depending on a frequency of the occurring bit pattern (Bi).
(FR)L'invention concerne un procédé et un dispositif (1) permettant la classification et/ou la génération de bits aléatoires (ZB). Ledit procédé comprend les étapes suivantes : la préparation (S1) de signaux de sortie (A1 - An) d'éléments logiques (21 - 2n) d'un circuit d'oscillateur annulaire (2), les éléments logiques (21 - 2m) étant au moins en partie réinjectés et chaque signal d'entrée (E1 - En) donnant en sortie un signal de sortie (A1 - An); la détection simultanée (S2) de plusieurs signaux de sortie (Ap - Aq) de différents éléments logiques (2p - 2q) du circuit d'oscillateur annulaire (2) afin de générer des bits de vérification (Pp - Pq); l'attribution (S3) des bits de vérification (Pp - Pq) détectés simultanément à un modèle de bits respectif (BMi); et la classification (S4) d'un signal de sortie sélectionné (An) en tant que signal aléatoire (ZS) aléatoire ou non aléatoire en fonction d'une fréquence d'apparition du modèle de bits (Bi).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)