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1. (WO2015127476) TEST DE DÉPISTAGE POUR L'IMPLANTATION DE DISPOSITIFS DE STIMULATION DU NERF VAGUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/127476    N° de la demande internationale :    PCT/US2015/017396
Date de publication : 27.08.2015 Date de dépôt international : 24.02.2015
CIB :
A61N 1/36 (2006.01)
Déposants : SETPOINT MEDIAL CORPORATION [US/US]; 28368 Constellation Road Suite 300 Valencia, CA 91355 (US)
Inventeurs : ZITNIK, Ralph, J.; (US).
LEVINE, Jacob, A.; (US)
Mandataire : CHU, Winston, S.; (US)
Données relatives à la priorité :
61/943,853 24.02.2014 US
Titre (EN) VAGUS NERVE STIMULATION SCREENING TEST
(FR) TEST DE DÉPISTAGE POUR L'IMPLANTATION DE DISPOSITIFS DE STIMULATION DU NERF VAGUE
Abrégé : front page image
(EN)A diagnostic screening test can be used to identify candidates for implantable vagus nerve stimulation devices. An analyte, such as a cytokine or inflammatory molecule, can be measured both before and after vagus nerve stimulation in order to detennine the responsiveness of the patient. VNS can be delivered noninvasively or minimally invasively using short term electrical or mechanical stimulation.
(FR)L'invention concerne un test de dépistage diagnostique permettant d'identifier des candidats chez qui implanter des dispositifs de stimulation du nerf vague. Un analyte, par exemple une cytokine ou une molécule inflammatoire, peut être mesuré avant et après la stimulation du nerf vague pour déterminer la sensibilité du patient à la stimulation. La stimulation du nerf vague peut être effectuée de manière non invasive ou très peu invasive par une brève stimulation électrique ou mécanique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)