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1. (WO2015127039) PROCÉDÉ POUR LA SURVEILLANCE D'ÉTATS ENVIRONNEMENTAUX D'UN ÉCHANTILLON POUR MICROSCOPIE AVEC UN PORTE-ÉCHANTILLON POUR MICROSCOPE ÉLECTRONIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2015/127039 N° de la demande internationale : PCT/US2015/016562
Date de publication : 27.08.2015 Date de dépôt international : 19.02.2015
CIB :
G01D 21/02 (2006.01) ,G01N 23/225 (2006.01) ,G01K 11/30 (2006.01) ,G01L 11/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
D
MESURE NON SPÉCIALEMENT ADAPTÉE À UNE VARIABLE PARTICULIÈRE; DISPOSITIONS NON COUVERTES PAR UNE SEULE DES AUTRES SOUS-CLASSES POUR MESURER PLUSIEURS VARIABLES; APPAREILS COMPTEURS À TARIFS; DISPOSITIONS POUR LE TRANSFERT OU LA TRANSDUCTION DE MESURE NON SPÉCIALEMENT ADAPTÉES À UNE VARIABLE PARTICULIÈRE; MESURES OU VÉRIFICATIONS NON PRÉVUES AILLEURS
21
Mesures ou vérifications non prévues ailleurs
02
Mesure de deux ou plusieurs variables par des moyens non couverts par une seule autre sous-classe
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
22
en mesurant l'émission secondaire
225
en utilisant une microsonde électronique ou ionique
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
K
MESURE DES TEMPÉRATURES; MESURE DES QUANTITÉS DE CHALEUR; ÉLÉMENTS THERMOSENSIBLES NON PRÉVUS AILLEURS
11
Mesure de la température basée sur les variations physiques ou chimiques, n'entrant pas dans les groupes G01K3/, G01K5/, G01K7/ ou G01K9/225
30
utilisant la mesure de l'effet d'un matériau sur un rayonnement X, un rayonnement gamma ou un rayonnement corpusculaire
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
L
MESURE DES FORCES, DES CONTRAINTES, DES COUPLES, DU TRAVAIL, DE LA PUISSANCE MÉCANIQUE, DU RENDEMENT MÉCANIQUE OU DE LA PRESSION DES FLUIDES
11
Mesure de la pression permanente, ou quasi permanente d'un fluide ou d'un matériau solide fluent par des moyens non prévus dans les groupes G01L7/ ou G01L9/200
Déposants : PROTOCHIPS, INC.[US/US]; 616 Hutton Street Suite 103 Raleigh, North Carolina 27606, US
Inventeurs : GARDINER, Daniel Stephen; US
CARPENTER, William Bradford; US
DAMIANO, John, Jr.; US
WALDEN, Franklin Stampley, II; US
NACKASHI, David P.; US
Mandataire : FUIERER, Tristan; US
Données relatives à la priorité :
61/941,74319.02.2014US
Titre (EN) METHOD FOR MONITORING ENVIRONMENTAL STATES OF A MICROSCOPE SAMPLE WITH AN ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE HOLDER
(FR) PROCÉDÉ POUR LA SURVEILLANCE D'ÉTATS ENVIRONNEMENTAUX D'UN ÉCHANTILLON POUR MICROSCOPIE AVEC UN PORTE-ÉCHANTILLON POUR MICROSCOPE ÉLECTRONIQUE
Abrégé :
(EN) An apparatus and a method for measuring and monitoring the properties of a fluid, for example, pressure, temperature, and chemical properties, within a sample holder for an electron microscope. The apparatus includes at least one fiber optic sensor used for measuring temperature and/or pressure and/or pH positioned in proximity of the sample.
(FR) L'invention concerne un appareil et un procédé permettant de mesurer et de surveiller les propriétés d'un fluide, par exemple, la pression, la température, et les propriétés chimiques, à l'intérieur d'un porte-échantillon pour un microscope électronique. L'appareil comprend au moins un capteur à fibres optiques, servant à mesurer la température et/ou la pression et/ou le pH, positionné à proximité de l'échantillon.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)