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1. (WO2015126111) APPAREIL ET PROCÉDÉ D’ESSAI DE CONDUCTIVITÉ DE GRAPHÈNE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2015/126111 N° de la demande internationale : PCT/KR2015/001532
Date de publication : 27.08.2015 Date de dépôt international : 16.02.2015
CIB :
G01N 21/3581 (2014.01)
[IPC code unknown for G01N 21/3581]
Déposants :
한양대학교 산학협력단 IUCF-HYU (INDUSTRY-UNIVERSITY COOPERATION FOUNDATION HANYANG UNIVERSITY) [KR/KR]; 서울시 성동구 왕십리로 222 222, Wangsimni-ro, Seongdong-gu, Seoul 133-791, KR
Inventeurs :
김학성 KIM, Hak-Sung; KR
박성현 PARK, Sung Hyeon; KR
김도형 KIM, Dohyoung; KR
Mandataire :
정은열 JUNG, Eun Youl; 서울시 강남구 논현로 154길 16 삼륭빌딩5층 (정앤김 특허법률사무소) (Jung, Kim & Partners) Samryung Bldg.5F. 16, Nonhyeon-ro 154-gil, Gangnam-gu Seoul 135-893, KR
Données relatives à la priorité :
10-2014-001965020.02.2014KR
Titre (EN) APPARATUS AND METHOD FOR TESTING CONDUCTIVITY OF GRAPHENE
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ D’ESSAI DE CONDUCTIVITÉ DE GRAPHÈNE
(KO) 그래핀의 전도성 검사 장치 및 검사 방법
Abrégé :
(EN) According to the present invention, oxidized and reduced regions of graphene can be accurately detected in a short time using a terahertz wave so as to measure the conductivity of graphene, and thus the time required to test the conductivity of graphene can be reduced. In addition, when an oxidized region exists in graphene, the oxidized region can be immediately reduced by irradiating an electromagnetic wave thereto so as to increase the conductivity of graphene and thus minimize the time required to restore graphene.
(FR) Selon la présente invention, des régions oxydées et réduites de graphène peuvent être détectées avec précision dans un court laps de temps à l'aide d'une onde térahertz de manière à mesurer la conductivité de graphène, et ainsi, le temps nécessaire pour tester la conductivité de graphène peut être réduit. En outre, lorsqu'une région oxydée existe dans le graphène, la région oxydée peut être immédiatement réduite par irradiation d'une onde électromagnétique sur celle-ci de manière à augmenter la conductivité de graphène et, ainsi, réduire au minimum le temps nécessaire pour restaurer le graphène.
(KO) 본 발명에 따르면 테라헤르츠파를 이용하여 그래핀의 산화, 환원 영역을 빠른 시간 내에 정확하게 탐지하여 전도성을 측정할 수 있어 그래핀 전도성 검사 시간을 줄일 수 있다. 또한, 그래핀에 산화 영역이 존재하면 바로 전자기파를 조사하여 환원시킴으로서 전도성을 높여 수리 시간을 최소화할 수 있다.
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Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)