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1. (WO2015125604) DISPOSITIF D'ANALYSE ET PROGRAMME INFORMATIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/125604    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/053100
Date de publication : 27.08.2015 Date de dépôt international : 04.02.2015
CIB :
G01N 23/225 (2006.01), G01N 23/223 (2006.01)
Déposants : HORIBA, LTD. [JP/JP]; 2, Miyanohigashicho, Kisshoin, Minami-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6018510 (JP)
Inventeurs : OHASHI, Satoshi; (JP).
KOMATSUBARA, Takashi; (JP).
KOSHIKAWA, Hiroyuki; (JP)
Mandataire : KOHNO, Hideto; (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-028673 18.02.2014 JP
Titre (EN) X-RAY ANALYSIS DEVICE AND COMPUTER PROGRAM
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE ET PROGRAMME INFORMATIQUE
(JA) X線分析装置及びコンピュータプログラム
Abrégé : front page image
(EN)This invention provides an X-ray analysis device and a computer program that make it possible to obtain an X-ray intensity distribution in which the impact of the geometry of the specimen is reduced. Said X-ray analysis device uses a plurality of X-ray detectors to detect X-rays from each part of a specimen (5) exposed to a beam and calculates weighted sums by summing together multiple X-ray intensities each multiplied by a weight coefficient, where said weight coefficients increase monotonically with respect to relative-ratio magnitudes. Using the calculated weighted sums as X-ray intensities for the respective parts of the specimen (5), the X-ray analysis device generates an intensity distribution for the X-rays from the specimen (5). The contribution of X-ray intensities that were attenuated as a result of the geometry of the specimen (5) to the weighted sums of X-ray intensities is small, and said weighted sums are thus close to non-attenuated X-ray intensities. Using the weighted sums as the X-ray intensities for the respective parts of the specimen (5) results in an X-ray intensity distribution in which the impact of the geometry of the specimen (5) is reduced.
(FR)Cette invention porte sur un dispositif d'analyse à rayons X et sur un programme informatique, lesquels rendent possible d'obtenir une répartition d'intensités de rayons X dans laquelle l'impact de la géométrie du spécimen est réduit. Ledit dispositif d'analyse à rayons X utilise une pluralité de détecteurs de rayons X pour détecter des rayons X à partir de chaque partie d'un spécimen (5) exposé à un faisceau, et calcule des sommes pondérées par l'addition les unes aux autres de multiples intensités de rayons X multipliées chacune par un coefficient de poids, lesdits coefficients de poids augmentant de façon monotone par rapport aux grandeurs de rapport relatives. En utilisant les sommes pondérées calculées comme intensités de rayons X pour les parties respectives du spécimen (5), le dispositif d'analyse à rayons X génère une répartition d'intensités pour les rayons X venant du spécimen (5). La contribution des intensités de rayons X qui ont été atténuées en résultat de la géométrie du spécimen (5) aux sommes pondérées des intensités de rayons X est faible, et lesdites sommes pondérées sont par conséquent proches d'intensités de rayons X non atténuées. L'utilisation des sommes pondérées comme intensités de rayons X pour les parties respectives du spécimen (5) produit en résultat une répartition d'intensités de rayons X dans laquelle l'impact de la géométrie du spécimen (5) est réduit.
(JA) 試料の形状による影響を低減したX線強度分布を求めることができるX線分析装置及びコンピュータプログラムを提供する。 X線分析装置は、試料5上でビームを照射した各部分から発生したX線を複数のX線検出器で検出し、相対比の大きさに対して単純増加する重み係数を夫々に乗じた複数のX線強度を加算した重み付き加算値を計算する。X線分析装置は、計算した重み付き加算値を試料5上の各部分でのX線強度として、試料5から発生したX線の強度分布を生成する。X線強度の重み付き加算値は、試料5の形状の影響で減衰したX線強度の寄与が小さく、減衰の無いX線強度に近い。重み付き加算値を試料5の各部分でのX線強度としたことで、試料5の形状による影響を低減したX線強度分布が得られる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)