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1. (WO2015124975) BOBINE DE MESURE DE COURANT ÉLECTRIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/124975    N° de la demande internationale :    PCT/IB2015/000082
Date de publication : 27.08.2015 Date de dépôt international : 30.01.2015
CIB :
G01R 15/18 (2006.01), H01F 17/00 (2006.01), H01F 38/28 (2006.01)
Déposants : PANASONIC INTELLECTUAL PROPERTY MANAGEMENT CO., LTD. [JP/JP]; 1-61, Shiromi 2-chome Chuo-ku, Osaka-shi Osaka 540-6207 (JP)
Inventeurs : YOSHIDA, Hiroshi; (JP).
ENDO, Jumpei; (JP).
MIYAMURA, Yusuke; (JP).
SHIOKAWA, Akimi; (JP)
Mandataire : FIRSTLAW P.C.; 60, Mabang-Ro Seocho-Ku Seoul 137-739 (KR)
Données relatives à la priorité :
2014-031761 21.02.2014 JP
Titre (EN) ELECTRIC CURRENT MEASUREMENT COIL
(FR) BOBINE DE MESURE DE COURANT ÉLECTRIQUE
(JA) 電流測定用コイル
Abrégé : front page image
(EN)This electrical current measurement coil is formed upon a circuit board that has a plurality of conductive layers and insulating layers, which are stacked in an alternating manner, and an opening, which is traversed by a conductor carrying the electric current to be measured, in a manner such that the electric current measurement coil surrounds the opening. The electric current measuring coil has a first coil, which includes two or more conductive patterns formed on two or more conductive layers among the plurality of conductive layers, and a second coil including one or more conductive patterns formed on one or more conductive layers different therefrom among the plurality of conductive layers. When viewed from the stacking direction of the plurality of conductive layers, the winding directions of the first coil and the second coil are reversed, and the area of the region surrounded by the first coil and the area of the region surrounded by the second coil, said regions being affected by magnetic fields that are parallel to the stacking direction of the plurality of conductive layers, are substantially the same, and the plurality of conductive patterns formed on the plurality of conductive layers overlap in the stacking direction of the plurality of conductive layers.
(FR)L'invention concerne une bobine de mesure de courant électrique qui est formée sur une carte de circuit possédant une pluralité de couches conductrices et de couches isolantes, lesquelles sont empilées de manière alternée, et une ouverture qui est traversée par un conducteur transportant le courant électrique devant être mesuré, de telle manière que la bobine de mesure de courant électrique entoure l'ouverture. La bobine de mesure de courant électrique comprend une première bobine, laquelle inclut deux motifs conducteurs ou plus formés sur deux couches conductrices ou plus parmi la pluralité de couches conductrices, et une deuxième bobine incluant un ou plusieurs motifs conducteurs formés sur une ou plusieurs couches conductrices différentes de celles-ci parmi la pluralité de couches conductrices. Vues depuis la direction d'empilement de la pluralité de couches conductrices, les directions d'enroulement de la première bobine et de la deuxième bobine sont inversées et la zone de la région entourée par la première bobine et la zone de la région entourée par la deuxième bobine, lesdites régions étant affectées par des champs magnétiques qui sont parallèles à la direction d'empilement de la pluralité de couches conductrices, sont sensiblement les mêmes, et la pluralité de motifs conducteurs formés sur la pluralité de couches conductrices se chevauchent dans la direction d'empilement de la pluralité de couches conductrices.
(JA)電流測定用コイルが交互に積層された複数の導電層及び複数の絶縁層と、被測定電流が流れる導体を貫通させるための開口とを有する回路基板に、前記開口を取り囲むように形成される。前記電流測定用コイルは、前記複数の導電層のうち2つ以上の導電層に形成される2つ以上の導電パターンを含む第1コイルと、前記複数の導電層のうち他の一つ以上の導電層に形成される一つ以上の導電パターンを含む第2コイルと、を有する。前記複数の導電層の積層方向から見て、前記第1コイルと前記第2コイルは巻き方向が互いに逆になリ、前記複数の導電層の積層方向に平行な磁界による影響を受ける、前記第1コイルで囲まれた面積と前記第2コイルで囲まれた面積がほぼ等しく、前記複数の導電層に形成された複数の導電パターンが、前記複数の導電層の積層方向から見て、重なり合っている。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)