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1. (WO2015123464) OPTIQUES DE CAPTAGE À BALAYAGE À POINTS MULTIPLES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2015/123464 N° de la demande internationale : PCT/US2015/015704
Date de publication : 20.08.2015 Date de dépôt international : 12.02.2015
CIB :
G02B 26/10 (2006.01) ,G01N 21/88 (2006.01) ,H01L 21/66 (2006.01)
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
26
Dispositifs ou systèmes optiques utilisant des éléments optiques mobiles ou déformables pour commander l'intensité, la couleur, la phase, la polarisation ou la direction de la lumière, p.ex. commutation, ouverture de porte, modulation
08
pour commander la direction de la lumière
10
Systèmes de balayage
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84
Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88
Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
L
DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
21
Procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication ou au traitement de dispositifs à semi-conducteurs ou de dispositifs à l'état solide, ou bien de leurs parties constitutives
66
Essai ou mesure durant la fabrication ou le traitement
Déposants :
KLA-TENCOR CORPORATION [US/US]; KLA-TENCOR CORPORATION Legal Department One Technology Drive, Milpitas Milpitas, California 95035, US
Inventeurs :
SULLIVAN, Jamie M.; US
JOHNSON, Ralph; US
CHURIN, Evegeny; US
CAI, Wenjian; US
MOON, Yong Mo; US
Mandataire :
MCANDREWS, Kevin; US
Données relatives à la priorité :
14/619,00410.02.2015US
61/939,14012.02.2014US
Titre (EN) MULTI-SPOT SCANNING COLLECTION OPTICS
(FR) OPTIQUES DE CAPTAGE À BALAYAGE À POINTS MULTIPLES
Abrégé :
(EN) Disclosed are apparatus and methods for inspecting or measuring a specimen. A system comprises an illumination channel for generating and deflecting a plurality of incident beams to form a plurality of spots that scan across a segmented line comprised of a plurality of scan portions of the specimen. The system also includes one or more detection channels for sensing light emanating from a specimen in response to the incident beams directed towards such specimen and collecting a detected image for each scan portion as each incident beam's spot is scanned over its scan portion. The one or more detection channels include at least one longitudinal side channel for longitudinally collecting a detected image for each scan portion as each incident beam's spot is scanned over its scan portion.
(FR) L'invention porte sur un appareil et sur des procédés qui permettent d'inspecter et de mesurer un spécimen. Un système comporte un canal d'éclairage pour générer et dévier une pluralité de faisceaux incidents de façon à former une pluralité de points qui effectuent un balayage sur une ligne segmentée comprenant une pluralité de parties de balayage du spécimen. Le système comprend également un ou plusieurs canaux de détection pour détecter une lumière émanant d'un spécimen en réponse aux faisceaux incidents dirigés vers ce spécimen et pour capter une image détectée pour chaque partie de balayage quand chaque point du faisceau incident effectue un balayage sur cette partie de balayage. Le ou les canaux de détection comprennent au moins un canal latéral longitudinal pour capter de façon longitudinale une image détectée pour chaque partie de balayage quand chaque point du faisceau incident effectue un balayage sur sa partie de balayage.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)