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1. (WO2015122713) APPAREIL DE PRÉPARATION D'ÉCHANTILLON DE SECTION TRANSVERSALE ET APPAREIL DE PRÉPARATION D'ÉCHANTILLON DE SECTION TRANSVERSALE EN ROTATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/122713    N° de la demande internationale :    PCT/KR2015/001468
Date de publication : 20.08.2015 Date de dépôt international : 13.02.2015
CIB :
G01N 1/06 (2006.01), G01N 1/28 (2006.01), G01N 23/225 (2006.01)
Déposants : KOREA ADVANCED INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY [KR/KR]; 291, Daehak-ro Yuseong-gu Daejeon 305-701 (KR)
Inventeurs : SOUN, Woosik; (KR).
YOO, Jungho; (KR).
YANG, Junmo; (KR).
HYUN, Moonseop; (KR)
Mandataire : LEE, InHaeng; (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2014-0017381 14.02.2014 KR
10-2014-0034002 24.03.2014 KR
Titre (EN) CROSS SECTION SAMPLE PREPARATION APPARATUS AND ROTATIONAL CROSS SECTION SAMPLE PREPARATION APPARATUS
(FR) APPAREIL DE PRÉPARATION D'ÉCHANTILLON DE SECTION TRANSVERSALE ET APPAREIL DE PRÉPARATION D'ÉCHANTILLON DE SECTION TRANSVERSALE EN ROTATION
(KO) 단면 시편 제조 장치 및 회전형 단면 시편 제조 장치
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a cross section sample preparation apparatus and a rotational cross section sample preparation apparatus which enable preparation of a sample for scanning electron microscope (SEM) analysis, and each of the apparatuses may comprise: at least one first milling machine for irradiating a first surface of a target with a first beam so as to mill the first surface; and at least one second milling machine for irradiating a second surface, which is the opposite surface to the first surface of the target, with a second beam so as to mill the second surface.
(FR)La présente invention concerne un appareil de préparation d'échantillon de section transversale et un appareil de préparation d'échantillon de section transversale en rotation qui permet la préparation d'un échantillon pour l'analyse par microscope électronique à balayage (MBE). Les appareils peuvent comprendre : une ou plusieurs fraiseuses destinées à exposer une première surface d'une cible au premier faisceau de façon à fraiser la première surface ; et une ou plusieurs secondes fraiseuses destinées à exposer une seconde surface qui est la surface en regard de la première surface de la cible au second faisceau de façon à fraiser la seconde surface.
(KO)본 발명은 주사 전자현미경(SEM: Scanning Electron Microscope) 분석용 시편을 제조할 수 있는 단면 시편 제조 장치 및 회전형 단면 시편 제조 장치에 관한 것으로서, 대상물의 제 1 면에 제 1 빔을 조사하여 상기 제 1 면을 밀링하는 적어도 하나의 제 1 밀링기; 및 상기 대상물의 상기 제 1 면의 반대면인 제 2 면에 제 2 빔을 조사하여 상기 제 2 면을 밀링하는 적어도 하나의 제 2 밀링기;를 포함할 수 있다.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)