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1. (WO2015119232) DISPOSITIF DE GESTION DE LA QUALITÉ ET PROCÉDÉ DE COMMANDE ASSOCIÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/119232    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/053339
Date de publication : 13.08.2015 Date de dépôt international : 06.02.2015
CIB :
G05B 19/418 (2006.01), G05B 23/02 (2006.01), H05K 13/08 (2006.01)
Déposants : OMRON CORPORATION [JP/JP]; 801, Minamifudodo-cho, Horikawahigashiiru, Shiokoji-dori, Shimogyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6008530 (JP)
Inventeurs : TANAKA Mayuko; (JP).
MORI Hiroyuki; (JP)
Mandataire : SERA Kazunobu; (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-023318 10.02.2014 JP
Titre (EN) QUALITY MANAGEMENT DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING SAME
(FR) DISPOSITIF DE GESTION DE LA QUALITÉ ET PROCÉDÉ DE COMMANDE ASSOCIÉ
(JA) 品質管理装置及びその制御方法
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a quality management device, comprising: a facility information acquisition means for acquiring data of a facility state value which is observed when processing a product with a manufacturing facility and which represents a state of the manufacturing facility; and a product information acquisition unit which acquires data of a product state value which is measured from the product which is processed by the manufacturing facility and which represents a state of the product. When a given product is assessed to be defective, the quality management device assesses, by a comparison with a good quality distribution of the product state value, whether the product state value of the defective product is an anomalous value, and assesses, by a comparison with a good quality distribution of the facility state value, whether the facility state value when the defective product is processed is an anomalous value. If it is assessed that either the product state value or the facility state value relating to the defective product is an anomalous value, the quality management device determines that a fault has occurred with the manufacturing facility.
(FR)L'invention concerne un dispositif de gestion de la qualité, comprenant : un moyen d'acquisition d'informations d'installation pour acquérir des données d'une valeur d'état d'installation qui est observée lors du traitement d'un produit avec une installation de fabrication et qui représente un état de l'installation de fabrication ; et une unité d'acquisition d'informations de produit qui acquiert des données d'une valeur d'état de produit qui est mesurée à partir du produit qui est traité par l'installation de fabrication et qui représente un état du produit. Lorsqu'un produit donné est évalué comme étant défectueux, le dispositif de gestion de la qualité évalue, par une comparaison avec une distribution de bonne qualité de la valeur de l'état du produit, si la valeur d'état de produit du produit défectueux est une valeur anormale, et évalue, par une comparaison avec une distribution de bonne qualité de la valeur d'état d'installation, si la valeur d'état d'installation, lorsque le produit défectueux est traité, est une valeur anormale. S'il est évalué que la valeur d'état de produit ou la valeur d'état d'installation relative au produit défectueux est une valeur anormale, le dispositif de gestion de la qualité détermine qu'un défaut est survenu au niveau de l'installation de fabrication.
(JA) 品質管理装置が、生産設備で製品を処理するときに観測された、前記生産設備の状態を表す設備状態値のデータを取得する設備情報取得部と、前記生産設備で処理された製品から計測された、前記製品の状態を表す製品状態値のデータを取得する製品情報取得部と、を有する。ある製品が不良品と判定された場合に、製品状態値の良品分布との比較により、当該不良品の製品状態値が異常値であるか否かを判定すると共に、設備状態値の良品分布との比較により、当該不良品を処理したときの設備状態値が異常値であるか否かを判定し、前記不良品に関する製品状態値と設備状態値のいずれもが異常値と判定された場合に、前記生産設備に異常があると判断する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)