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1. (WO2015119094) SPECTROSCOPE, ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE CELUI-CI
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/119094    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/052926
Date de publication : 13.08.2015 Date de dépôt international : 03.02.2015
CIB :
G01J 3/02 (2006.01), G01J 3/18 (2006.01), G01J 3/36 (2006.01)
Déposants : HAMAMATSU PHOTONICS K.K. [JP/JP]; 1126-1, Ichino-cho, Higashi-ku, Hamamatsu-shi, Shizuoka 4358558 (JP)
Inventeurs : YOKINO Takafumi; (JP).
SHIBAYAMA Katsumi; (JP)
Mandataire : HASEGAWA Yoshiki; (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-020667 05.02.2014 JP
Titre (EN) SPECTROMETER, AND SPECTROMETER PRODUCTION METHOD
(FR) SPECTROSCOPE, ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE CELUI-CI
(JA) 分光器、及び分光器の製造方法
Abrégé : front page image
(EN)This spectrometer (1A) is provided with: a light-detection element (20) in which a light-transmission unit (21), a first light-detection unit (22), and second light-detection units (26) are provided; a support body (30) fixed to the light-detection element (20) such that a space (S) is formed; a first reflection unit (11) which is provided to the support body (30), and which reflects light (L1) in the space (S), said light (L1) having been transmitted through the light-transmission unit (21); a second reflection unit (12A) which is provided to the light-detection element (20), and which reflects the light (L1) in the space (S), said light (L1) having been reflected by the first reflection unit (11); and a light-dispersion unit (40A) which is provided to the support body (30), and which disperses and reflects, into the first light-detection unit (22), the light (L1) in the space (S), said light (L1) having been reflected by the second reflection unit (12A). The plurality of second light-detection units (26) are disposed in an area surrounding the second reflection unit (12A).
(FR)Le spectroscope (1A) de l'invention est équipé : d'un élément de détection lumineuse (20) dans lequel sont agencées une partie (21) de passage de la lumière, une première partie détection lumineuse (22) et des secondes parties détection lumineuse (26) ; d'un corps de support (30) fixé sur l'élément de détection lumineuse (20) de sorte qu'un espace (S) se forme ; d'une première partie réflexion (11) qui est agencée sur le corps de support (30), et qui réfléchit une lumière (L1) passée au travers de la partie (21) de passage de la lumière au niveau de l'espace (S) ; d'une seconde partie réflexion (12A) qui est agencée sur l'élément de détection lumineuse (20), et qui réfléchit la lumière (L1) réfléchie par la première partie réflexion (11) au niveau de l'espace (S) ; et d'une partie diffraction (40A) qui est agencée sur le corps de support (30), et qui soumet la lumière (L1) réfléchie par la seconde partie réflexion (12A) à la fois à une diffraction et à une réflexion vis-à-vis de la première partie détection lumineuse (22) au niveau de l'espace (S). La pluralité de secondes parties détection lumineuse (26) est disposée dans une région entourant la seconde partie réflexion (12A).
(JA) 分光器1Aは、光通過部21、第1光検出部22及び第2光検出部26が設けられた光検出素子20と、空間Sが形成されるように光検出素子20に固定された支持体30と、支持体30に設けられ、空間Sにおいて、光通過部21を通過した光L1を反射する第1反射部11と、光検出素子20に設けられ、空間Sにおいて、第1反射部11で反射された光L1を反射する第2反射部12Aと、支持体30に設けられ、空間Sにおいて、第2反射部12Aで反射された光L1を第1光検出部22に対して分光すると共に反射する分光部40Aと、を備える。第2光検出部26は、第2反射部12Aを包囲する領域に複数配置されている。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)